[发明专利]一种基于量子级联的RCS测量收发系统

权利要求书

1.一种基于量子级联的RCS测量收发系统，用于测量待测目标的雷达散射截面，其特征在于，包括光源(A1)、本振光路、信号光路和检测组件；

所述本振光路包括本振参考光路和本振测量光路；

所述信号光路包括信号参考光路和信号测量光路；所述信号测量光路包含紧缩场，所述待测目标设置在紧缩场中；

由光源发射的光信号通过本振参考光路传输得到本振参考光，并馈入检测组件；由光源发射的光信号通过本振测量光路传输得到本振测量光，并馈入检测组件；

由光源发射的光信号通过信号参考光路传输得到信号参考光，并馈入检测组件；由光源发射的光信号通过信号测量光路传输得到待测目标的信号测量光，并馈入检测组件；

所述检测组件对接收到的本振参考光、信号参考光进行混频，对接收到的本振测量光、信号测量光进行混频，并对混频后的信号进行分析得到待测目标的RCS信息；

其中，所述本振参考光路包含依次设置的波束整形镜(R8)、第五分光膜(S5)、第六平面镜(R9)、第三分光膜(S3)、第七平面镜(R10)、第二分光膜(S2)和第二透镜(L2)；由光源(A1)出射的光信号首先经过波束整形镜(R8)进行波束整形，形成准直光束，然后经过第五分光膜(S5)分光，第五分光膜(S5)分光后的透射光经过第六平面镜(R9)反射后，到达第三分光膜(S3)，

经第三分光膜(S3)分光后的透射光束依次经过第七平面镜(R10)和第二分光膜(S2)的反射后，经过第二透镜(L2)的聚焦，作为本振参考光馈入所述检测组件；

其中，所述本振测量光路包含依次设置的波束整形镜(R8)、第五分光膜(S5)、第六平面镜(R9)、第三分光膜(S3)、第四分光膜(S4)和第一透镜(L1)；由光源(A1)出射的光信号首先经过波束整形镜(R8)进行波束整形，形成准直光束，然后经过第五分光膜(S5)分光，第五分光膜(S5)分光后的透射光经过第六平面镜(R9)反射后，到达第三分光膜(S3)，经第三分光膜(S3)分光后的反射光束再经过第四分光膜(S4)反射，经过第一透镜(L1)的聚焦，作为本振测量光馈入所述检测组件；

其中，所述信号参考光路包含依次设置的波束整形镜(R8)、第五分光膜(S5)、第一平面镜(R1)、第二平面镜(R2)、第一分光膜(S1)、第二分光膜(S2)和第二透镜(L2)；由光源(A1)出射的光信号首先经过波束整形镜(R8)进行波束整形，形成准直光束，然后经过第五分光膜(S5)分光，第五分光膜(S5)分光后的反射光束依次经过第一平面镜(R1)和第二平面镜(R2)的反射后，到达第一分光膜(S1)，经第一分光膜(S1)分光后的透射光束依次经过第二分光膜(S2)透射和第二透镜(L2)聚焦后，作为信号参考光馈入检测组件；

所述信号测量光路包含依次设置的波束整形镜(R8)、第五分光膜(S5)、第一平面镜(R1)、第二平面镜(R2)、第一分光膜(S1)、紧缩场、第四分光膜(S4)和第一透镜(L1)；由光源(A1)出射的光信号首先经过波束整形镜(R8)进行波束整形，形成准直光束，然后经过第五分光膜(S5)分光，第五分光膜(S5)分光后的反射光束依次经过第一平面镜(R1)和第二平面镜(R2)的反射后，到达第一分光膜(S1)，经第一分光膜(S1)分光后的反射光束作为发射信号进入紧缩场，经过发射紧缩场扩束后的光信号全照射目标，由目标反射的接收信号进一步经过接收紧缩场，到达第四分光膜(S4)，第四分光膜(S4)的透射光经过第一透镜(L1)的聚焦，作为信号测量光馈入检测组件。

2.如权利要求1所述的一种基于量子级联的RCS测量收发系统，其特征在于，所述紧缩场包括发射紧缩场和接收紧缩场。

3.如权利要求1所述的一种基于量子级联的RCS测量收发系统，其特征在于，所述发射紧缩场包含依次设置的发射副镜(R3)、第四平面镜(R4)、第五平面镜(R5)和主反射面(R6)；

经第一分光膜(S1)分光后的反射光作为发射信号到达发射副镜(R3)，依次经发射副镜(R3)、第四平面镜(R4)、第五平面镜(R5)反射后，到达主反射面(R6)，经主反射面(R6)的反射，光束半径扩大，形成平行光束照射待测目标。