[发明专利]包括至少一个支承结构的声阻支承隔膜组件在审
申请号: | 202110885146.9 | 申请日: | 2021-08-03 |
公开(公告)号: | CN114071331A | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | Z·E·兰波特;W·M·吉本斯;Y·张 | 申请(专利权)人: | W.L.戈尔及同仁股份有限公司 |
主分类号: | H04R7/18 | 分类号: | H04R7/18 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 江漪 |
地址: | 美国特*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 包括 至少 一个 支承 结构 声阻 隔膜 组件 | ||
1.一种组件,包括:
聚合物膜;以及
至少一个支承结构,其中,所述至少一个支承结构的至少一部分与所述聚合物膜接触;
其中,所述组件具有100至50000瑞利的气流阻力;以及
其中,所述组件具有当使用振动位移测试(VDT)进行测量时从0.0002帕/纳米到3000帕/纳米的有效刚度。
2.一种组件,包括:
聚合物膜;以及
至少一个支承结构,其中,所述至少一个支承结构的至少一部分与所述聚合物膜接触;
其中,所述组件具有通过阻抗管传输矩阵测试(ITTMT)测得的、在50至20000赫兹的频率范围内的相位角为+45度至–45度的声阻抗。
3.一种组件,包括:
聚合物膜;以及
至少一个支承结构,其中,所述至少一个支承结构的至少一部分与所述聚合物膜接触;
其中,所述组件具有100至50000瑞利的气流阻力;
其中,所述组件具有当使用振动位移测试(VDT)进行测量时从0.0002帕/纳米到3000帕/纳米的有效刚度;以及
其中,所述组件具有通过阻抗管传输矩阵测试(ITTMT)测得的、在50至20000赫兹的频率范围内的相位角为+45度至–45度的声阻抗。
4.一种组件,包括:
聚合物膜;以及
至少一个支承结构,其中,所述至少一个支承结构的至少一部分与所述聚合物膜接触;
其中,在通过阻抗管传输矩阵测试(ITTMT)测量时,所述组件呈现出在50至20000赫兹的频率范围内变化不超过1.5分贝/倍频程的传输损耗。
5.如任一前述权利要求所述的组件,其特征在于,所述组件具有根据毛细活塞测试(CPT)测量的、范围从10磅/平方英寸到350磅/平方英寸的进水压力(WEP)。
6.如任一前述权利要求所述的组件,其特征在于,所述组件呈现出当通过阻抗管传输矩阵测试(ITTMT)测量时在50至20000赫兹范围内的从3分贝到48分贝的传输损耗。
7.如任一前述权利要求所述的组件,其特征在于,所述聚合物膜具有0.025微米至300微米范围内的厚度。
8.如任一前述权利要求所述的组件,其特征在于,所述聚合物膜包括具有不同孔径的多个孔。
9.如任一前述权利要求所述的组件,其特征在于,多个孔具有0.1至30微米范围内的最大孔径。
10.如任一前述权利要求所述的组件,其特征在于,所述聚合物膜具有0.4至120磅/平方英寸范围内的泡点。
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