[发明专利]芯片验证中测试案例流程信息的生成系统及应用在审

专利信息
申请号: 202110887751.X 申请日: 2021-08-03
公开(公告)号: CN113591422A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 袁力;蔡浩;胡扬央 申请(专利权)人: 眸芯科技(上海)有限公司
主分类号: G06F30/33 分类号: G06F30/33;G06F8/30;G06F8/73
代理公司: 上海图灵知识产权代理事务所(普通合伙) 31393 代理人: 谢微
地址: 201210 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 芯片 验证 测试 案例 流程 信息 生成 系统 应用
【说明书】:

发明公开了芯片验证中测试案例流程信息的生成系统及应用,涉及芯片开发技术领域。所述系统包括:验证人员客户端,用于在EDA仿真代码中加入流程标识符,在EDA仿真测试案例运行完成时,获取设置有流程标识符的EDA仿真代码信息后发送到流程信息生成装置;软件人员客户端,用于在C代码中加入流程标识符,在前述软件测试案例运行完成时,获取设置有流程标识符信息的C代码后发送到流程信息生成装置;流程信息生成装置,用于接收设置有流程标识符信息的EDA仿真代码或C代码,生成对应的流程图文档后存储在流程图数据库中。本发明提高了流程图绘制效率和可靠性,降低了验证工作量,同时提高了相关人员沟通的顺畅性和效率。

技术领域

本发明涉及芯片开发技术领域,尤其涉及一种芯片验证中测试案例流程信息的生成系统及应用。

背景技术

在芯片研发的过程中,芯片的验证(Verification)工作贯穿整个芯片设计流程,从行为级HDL设计,一直到芯片流片之前都需要进行大量的EDA(Eletronic DesignAutomation,电子设计自动化)验证。其中,测试案例(case test)是为了验证测试项目的功能或者性能而编写一系列的代码,以芯片设计中常用的UVM(Universal VerificationMethodology,通用验证方法学)验证为例,其测试案例是基于system verilog语言,其通过用UVM sequence(UVM序列)的方式产生激励。通过测试案例进行EDA仿真获取仿真结果后,后期还需要通过debug(侦错)工具来定位bug并进行改正,通常是由一个系统模型来运行软件,以此来检测芯片硬件设计中的bug。

在芯片debug过程中,芯片验证工程师(或称验证人员)和软件设计工程师(或称软件人员)都需要通过测试案例去验证芯片中某个模块功能的正确性。在一些情况下,芯片验证工程师和软件设计工程师还需要针对测试案例进行沟通。作为举例,比如芯片验证工程师提供某种EDA仿真测试案例的配置信息以给软件设计工程师在芯片上调试,以验证芯片中某个模块功能的正确性;软件设计工程师根据芯片验证工程师提供的EDA仿真测试案例的配置信息,通过脚本转换成C代码(将EDA仿真测试案例的配置转换成基于C语言的程序,以便对应的 C代码软件能够运行上述测试案例)并在芯片上面进行调试。软件设计工程师在调试过程中,可能会根据需要对测试案例的逻辑进行修改并在芯片上面运行,并记录芯片的运行结果,再把修改后的测试案例和对应的芯片运行结果提供给芯片验证工程师,上述过程中,芯片验证工程师和软件设计工程师可能需要向对方展示和讲解测试案例的逻辑和修改信息。

相比于基于代码语言的文本内容的沟通,采用流程图的方式进行沟通不仅简单直观,且易于展示和讲解,是芯片验证工程师和软件设计工程师在针对测试案例进行沟通的优选方式。然而,当前芯片验证工程师和软件设计工程师在绘制测试案例的逻辑模块的流程图文档时,往往需要重新将之前的测试案例的流程再走一遍,不仅增加了验证工作量,而且容易造成测试案例混乱,导致绘制的流程文档出错。

发明内容

本发明的目的在于:克服现有技术的不足,提供了一种芯片验证中测试案例流程信息的生成系统及应用。本发明能够针对基于硬件编程语言设计的仿真测试案例和基于C代码的软件测试案例,自动生成对应的流程图信息,提高了流程图绘制效率和可靠性,降低了验证工作量,同时提高了验证人员和软件人员就不同程序语言的测试案例进行沟通的顺畅性和效率。

为实现上述目标,本发明提供了如下技术方案:

一种芯片验证中测试案例流程信息的生成系统,包括验证人员客户端、软件人员客户端和流程信息生成装置;

所述验证人员客户端,用于采集验证人员针对EDA仿真测试案例设置的流程标识符信息,在前述EDA仿真测试案例对应的EDA仿真代码中用添加注释的方式加入前述设置的流程标识符信息;以及在前述EDA仿真测试案例运行完成时,获取前述设置有流程标识符信息的EDA仿真代码信息后发送到流程信息生成装置;

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