[发明专利]一种集成电路芯片测试方法及其设备

说明书

一种集成电路芯片测试方法及其设备，涉及集成电路测试技术领域；包括输送箱，输送箱内部安装有循环转动的传送带，传送带内部设有工型架，输送箱顶部对应传送带安装有检测箱，检测箱内部安装有电动推杆驱动进行上下移动的检测设备，输送箱后侧安装有输出箱，检测箱与输出箱之间固定安装有充放气泵，输出箱内下端固定安装有T状的分类输送台，分类输送台的T型路口中心安装有可旋转的转向输送轮，分类输送台位于T型路口中心外侧均转动连接有输送滚轮，导向板上端设有受充放气泵充气浮动的缓冲板。解决现有技术中集成电路芯片在输送过程中易损坏，并且检测完成的集尘电路芯片不便分类输出的问题。

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术领域，更具体的说，本发明涉及一种集成电路芯片测试方法及其设备。

背景技术

随着科技水平的快速发展，集成电路体积小、重量轻、引脚少、寿命长、可靠性高、成本低、性能好等优点,同时还便于大规模生产，广泛用于各个领域，工厂生产规模随着需求大量增长，对于生产的集成电路芯片需要进行检测是否达到标准才可进行售卖，目前，在输送过程中集成电路芯片易损坏，并且检测完成的集尘电路芯片不便分类输出。

发明内容

本发明旨在于解决现有技术中集成电路芯片在输送过程中易损坏，并且检测完成的集尘电路芯片不便分类输出的技术问题。

本发明的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：

一种集成电路芯片测试设备，包括输送箱，输送箱内部安装有循环转动的传送带，输送箱上端外侧设有进料口，传送带内部设有工型架，工型架上下端均固定有齿条一，传送带上端等距离依次设有检测槽，检测槽内设有与齿条一啮合旋转的凸轮，检测槽内部设有受凸轮旋转顶动升降的抬升板，输送箱顶部对应传送带安装有检测箱，检测箱内部安装有电动推杆驱动进行上下移动的检测设备，输送箱后侧安装有输出箱，检测箱与输出箱之间固定安装有充放气泵，输出箱内下端固定安装有T状的分类输送台，分类输送台的T型路口中心安装有可旋转的转向输送轮，分类输送台位于T型路口中心外侧均转动连接有输送滚轮，分类输送台靠近传送带一侧固定安装有导向板，且导向板一端靠近传送带，导向板靠近传送带一端转动设置有滚柱，导向板上端设有受充放气泵充气浮动的缓冲板。

优选的，检测箱内顶部安装有检测控制设备，检测设备包括支架板、连接板、接触板和压板，支架板底部与检测箱内部之间安装有竖直的电动推杆，支架板底部左右两侧固定有竖直的连接板，连接板底部固定有压板，压板上端安装有接触板，接触板底部设有贯穿压板的探针组件。

优选的，压板呈M状，压板两侧与检测箱内底部之间固定有弹簧，探针组件包括探针一和探针二，探针一与探针二之间固定有弹簧，探针一与接触板固定。

优选的，导向板倾斜设置，导向板上斜端位于传送带一侧，导向板上端设有凹槽，凹槽上端靠近传送带一侧安装有缓冲板，凹槽内固定有弹簧，弹簧处于初始状态处于正常状态，且缓冲板与导向板上端平面处于10°夹角。

优选的，凹槽内部安装有通过导管连接充放气泵的吹风管，且导管上端安装有电动阀，缓冲板顶部依次转接有滚轴。

优选的，转向输送轮包括转轴、驱动盒和轴座，转轴上端固定有驱动盒，驱动盒内安装有马达，驱动盒上端固定有轴座，轴座上端转动连接有滚轮，马达与滚轮的中心轴通过同步轮同步带传动连接。

优选的，分类输送台内安装有缸体，缸体内滑动连接有活塞板，活塞板靠近转轴一侧固定有齿条二，转轴对应齿条二固定有齿轮，缸体与充放气泵之间连接导管，且导管上端安装有电动阀。

优选的，输出箱顶部对应分类输送台安装有CCD相机，且CCD相机与显示屏之间电性连接。

本发明提供一种集成电路芯片测试设备的测试方法：

步骤一：将集成电路芯片放入检测槽内，启动传送带传输，当检测槽内集成电路芯片输送至检测设备下端时，传送带停止10s；