[发明专利]一种相控阵天线发射自检方法

说明书

本发明提供一种相控阵天线发射自检方法，包含步骤：S1、搭建自检测试环境；S2、计算噪声基底；S3、计算单TR通道发射状态判决门限；S4、选择未自检过的一路TR通道使能发射；S5、通过所述相控阵天线的保护通道接收信号，计算接收信号功率；S6、判定当前TR通道发射状态；S7、判断是否完成全部TR通道的发射自检，若否则转至步骤S4，若是则结束。本发明可实现主要依靠雷达系统自身即可快速判断各TR通道的发射状态，而且测试结果精确、易于操作、受环境影响较小，适用范围更广。

技术领域

本发明涉及雷达技术领域，尤其涉及一种相控阵天线发射自检方法。

背景技术

近年来，相控阵雷达成为现代雷达的重要发展方向，其与阵列信号处理及天线技术相结合，可充分发挥雷达系统的性能优势，并可进一步发掘探测潜力。另外，相控阵雷达的天线结构尤为适合构建多通道系统，因此可作为多种先进的阵列信号处理技术的应用平台。

相控阵雷达采用收发前端分布式布局，通过天线上的多组TR(发射/接收)组件发射、接收微波信号。TR组件是相控阵天线的重要组成部分，TR组件各通道是否正常工作直接影响雷达探测距离等关键性能指标，所以相控阵天线在长期使用后需要对TR组件各通道进行检查维护。由于TR组件已与辐射单元连接装配完毕，TR组件的输入输出端口信号已无法通过简单的射频传输方式送入或送出，不便于性能指标检测。即便辐射单元可拆卸，但由于射频性能检测需要人工连接数量众多的射频接口，且由于人工操作辐射单元重新装配可能造成幅相校准数据偏差，又进一步增加了原本就耗时耗力的天线配相工作量，工时长，效益低，可操作性差。目前，关于相控阵天线发射自检方法的研究仍然较少，现有技术中通常以TR组件的工作电流作为判断依据，但采用此方法TR组件的许多性能指标无法体现，导致检测结果不准确，且需要借助外部测试设备逐个通道连接测试，操作繁琐，耗时长。

发明内容

本发明的目的在于提供一种相控阵天线发射自检方法，利用天线自身的保护通道依次接收各TR通道辐射的微波信号进行判断，可以实现主要依靠雷达系统自身即可快速判断各TR通道的发射状态，而且测试结果精确，易于操作，受环境影响较小，适用范围更广。

为实现上述目的，本发明通过以下技术方案实现：

一种相控阵天线发射自检方法，包含步骤：

S1、搭建自检测试环境；

S2、计算噪声基底；

S3、计算单TR通道发射状态判决门限；

S4、选择未自检过的一路TR通道使能发射；

S5、通过所述相控阵天线的保护通道接收信号，计算接收信号功率；

S6、判定当前TR通道发射状态；

S7、判断是否完成全部TR通道的发射自检，

若否，则转至步骤S4；

若是，则结束。

进一步，步骤S1包含：

S11、选择可进行微波信号收发的暗室作为测试室；

S12、在所述测试室内设置天线基座，将所述相控阵天线固定于天线基座上，天线阵面的前方无遮挡；

S13、将所述相控阵天线与信息收发处理组件电连接，所述信息收发处理组件分别与雷达信号接收机、雷达信号处理器和常规检测仪器电连接，组成完整的雷达检测系统；其中，所述相控阵天线用于发射、接收信号，所述信息收发处理组件用于控制所述相控阵天线的发射、接收状态，所述雷达信号接收机用于将接收到的雷达信号进行自动增益控制处理，所述雷达信号处理器用于对经过所述雷达信号接收机处理后的信号进行进一步处理和计算，所述常规检测仪器用于监测所述相控阵天线是否处于正常工作状态。

进一步，步骤S2包含：