[发明专利]一种检测方法、检测装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，用于对待测环境投射预设探测图像对应的探测光束来获取所述待测环境的环境结果信息，所述检测方法包括：

步骤S1：获取所述预设探测图像的预设特征数据，获取成像模组感测所述待测环境得到的成像图像；

步骤S2：根据所述预设探测图像的预设特征数据，识别所述成像图像中是否包含所述探测光束经所述待测环境作用后被所述成像模组感测得到的实际测得图像；以及

步骤S3：当所述成像图像包含所述实际测得图像时，计算分析所述实际测得图像，以获取所述待测环境的环境结果信息。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S3包括：

步骤S31：获取所述实际测得图像的实际特征数据，获取表征目标标准物质现象的标准图像的标准特征数据；

步骤S32：根据所述实际测得图像的实际特征数据和所述标准图像的标准特征数据，确定用以表征所述实际测得图像和所述标准图像相似程度或差异程度的参数；以及

步骤S33：根据所述参数是否满足预设阈值范围，判断所述待测环境中是否存在所述目标标准物质现象，以获取所述环境结果信息。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，用于根据所述实际测得图像随着时间流逝的变化规律来获取所述待测环境的环境结果信息；在所述步骤S3之前和所述步骤S2之后，所述检测方法还包括：

步骤S4：重复执行所述步骤S1～S2，获取包含多个所述实际测得图像的实际测得图像序列；

所述步骤S3包括：

步骤S3001：分析比较所述多个实际测得图像，获取所述实际测得图像序列的变化规律特征；以及

步骤S3002：根据所述实际测得图像序列以及所述实际测得图像序列的变化规律特征，获取所述待测环境的环境结果信息。

4.一种检测装置，其特征在于，用于对待测环境投射预设探测图像对应的探测光束来获取所述待测环境的环境结果信息，所述检测装置包括：

发射模组，用于对所述待测环境投射预设探测图像对应的探测光束；

成像模组，用于感测所述待测环境得到成像图像，用于感测经所述待测环境作用后的所述探测光束生成实际测得图像；

计算分析模块，用于执行权利要求1所述的检测方法；以及

数据库。

5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于：所述数据库存储有标准图像的标准特征数据和所述预设探测图像的预设特征数据，所述标准图像配置为所述预设探测图像对应的探测光束经标准物质现象作用后被所述成像模组感测得到的实际测得图像，所述标准图像的标准特征数据配置为所述实际测得图像的实际特征数据。

6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，

所述预设探测图像包括主预设探测图像和辅助预设探测图像，其中，所述主预设探测图像用来检测所述待测环境是否存在目标标准物质现象，所述辅助预设探测图像通过检测所述待测环境是否存在干扰所述目标标准物质现象的物质现象，来验证所述主预设探测图像的检测结果；当所述辅助预设探测图像检测到所述待测环境存在所述干扰目标物质现象的物质现象时，修正所述计算分析模块基于所述主预设探测图像检测所述待测环境是否存在所述目标标准物质现象的判断算法。

7.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括滤光模块；所述成像模组在所述滤光模块的滤光后成像；

其中，所述预设探测图像对应的探测光束包括至少一个特定波段的光波，所述预设特征数据包括至少一个波段信息；所述滤光模块允许光信号通过的至少一个特定波段与所述预设特征数据所包括的至少一个波段信息一一对应；所述实际测得图像包括所述待测环境与所述探测光束作用后，由所述成像模组在所述滤光模块滤光后，感测得到的至少一个子实际测得图像；所述至少一个子实际测得图像与所述至少一个波段信息一一对应；

其中，所述计算分析模块通过计算分析所述至少一个子实际测得图像，来获取所述待测环境的环境结果信息。