[发明专利]一种双目显微镜检测装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110892328.9 申请日: 2021-08-04
公开(公告)号: CN113686549A 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: 王胜;谢芳;杨龙;王艳;李先贤 申请(专利权)人: 孝感华中精密仪器有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 代理人: 孙迪
地址: 432100*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 双目 显微镜 检测 装置 方法
【说明书】:

本发明公开了一种双目显微镜检测装置及方法,装置包括固定板、第一前置镜、第二前置镜、调节机构、角度检测件以及后置分划板。本发明提出的技术方案的有益效果是:通过调节机构使第一镜筒及第二镜筒分别对准待检测的双目显微镜的两支目镜筒,再通过调节机构调节固定板的方位,使第一前置镜的视场中的后置分划板的分划线与第一前置分划板的分划线重合,再转动第二前置分划板使第二前置镜的视场中的后置分划板的分划线与第二前置分划板的分划线平行,从而通过第二前置分划板的转动角度可得出被检测的双目显微镜的左右光学系统像面方位差,最后根据后置分划板的十字分划线交点的偏差值得到被检测的双目显微镜的左右光学系统出射光束方向偏差。

技术领域

本发明涉及显微镜检测技术领域,尤其是涉及一种双目显微镜检测装置及方法。

背景技术

双目显微镜(如申请号为CN200620010426.6的中国实用新型专利)有双目平行显微镜和双目不平行显微镜两种(如体视显微镜),双目显微镜的检测标准中需要测量双目显微镜左右光学系统像面方位差以及双目显微镜左右光学系统出射光束方向偏差。

现有技术中采用单目像倾斜测量仪测量双目显微镜左右光学系统像面方位差,其操作方法是先将十字分划板放置于待检测的双目显微镜的物面中央,再将单目像倾斜测量仪对准左目镜并调水平后,再调节待检测的双目显微镜,使单目像倾斜测量仪的视场中的十字分划板图像与单目像倾斜测量仪自带的分划板重合,再将单目像倾斜测量仪对准右目镜并调水平后测量十字分划板的分划线与单目像倾斜测量仪自带的分划板的分划线的夹角,从而判断双目显微镜左右光学系统像面方位差,此种方法必须要先后对准两个目镜,测试两次,每次都需要水泡调平,效率十分低,并且功能单一,仅能测量双目显微镜左右光学系统像面方位差,不能测量双目显微镜左右光学系统出射光束方向偏差。

现有技术中采用固定的双筒望远镜测试双目显微镜左右光学系统出射光束方向偏差,其不能测量双目显微镜左右光学系统像面方位差。

综上所述,现有技术中,缺乏一种方便操作、且可同时测量双目显微镜左右光学系统像面方位差及左右光学系统出射光束方向偏差的测量装置。

发明内容

有鉴于此,有必要提供一种双目显微镜检测装置及方法,用以解决现有技术中缺乏一种方便操作、且可同时测量双目显微镜左右光学系统像面方位差及左右光学系统出射光束方向偏差的测量装置的技术问题。

为了实现上述目的,本发明提供了一种双目显微镜检测装置,包括固定板、第一前置镜、第二前置镜、调节机构、角度检测件以及后置分划板;

所述第一前置镜包括第一镜筒及第一前置分划板,所述第一镜筒固定于所述固定板上,所述第一前置分划板固定于所述第一镜筒内;

所述第二前置镜包括第二镜筒及第二前置分划板,所述第二镜筒连接于所述固定板上,所述第二前置分划板转动设置于所述第二镜筒内;

所述调节机构与所述固定板连接且用于调节所述固定板的位置及方位角;

所述角度检测件与所述第二前置分划板连接且用于检测所述第二前置分划板的转动位置;

所述后置分划板用于放置于待检测的双目显微镜的物面中央。

优选地,所述调节机构包括位置调节件及角度调节件,所述位置调节件与所述角度调节件连接且用于调节所述角度调节件在三维空间内的位置,所述角度调节件与所述固定板连接且用于调节所述固定板在三维空间内的方位角。

优选地,所述位置调节件包括底板、支柱、升降滑套、纵向导板、横向导板及横向滑套,所述支柱垂直固定于所述底板上,所述升降滑套滑动设置于所述支柱上,所述升降滑套上形成有沿水平方向延伸的导向槽,所述纵向导板滑动设置于所述导向槽内,所述横向导板沿水平方向延伸且与所述纵向导板垂直固定连接,所述横向滑套滑动设置于所述横向导板上,所述横向滑套与所述角度调节件固定连接。

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