[发明专利]模块测试方法和装置

权利要求书

1.一种模块测试方法，包括：

响应于接收到测试事件的测试指令，激活与模块的一个或多个测试点中的各个测试点相关的所述测试事件，以调用测试处理函数；其中

所述测试处理函数与所述一个或多个测试点相关，并且在所述模块初始化时，将所述测试处理函数传送给所述一个或多个测试点中的各个测试点。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述模块中设置有预定义的结构体，所述结构体包括测试点数量参数和测试点位置变量，其中，所述测试点数量参数被配置为具有与所述一个或多个测试点的数量相关的预设值，所述测试点位置变量被配置为能够被赋值为与所述一个或多个测试点的数量相关的多个取值中的任意一个，所述多个取值包括默认值和一个或多个关联取值。

3.根据权利要求2所述的方法，还包括：

响应于所述测试点位置变量被配置为所述默认值，对与所述一个或多个测试点中的各个测试点相关的所述测试事件进行去激活。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述测试处理函数包括与所述一个或多个测试点相关的一个或多个测试点参数，其中所述一个或多个测试点参数中的各个测试点参数的取值分别与所述一个或多个关联取值中的各个关联取值一一对应相等。

5.根据权利要求2所述的方法，其中，所述测试处理函数包括与所述一个或多个测试点相关的一个或多个测试点参数，以及其中，所述在所述模块初始化时，将所述测试处理函数传送给所述一个或多个测试点中的各个测试点包括：

将所述一个或多个关联取值与所述一个或多个测试点参数关联，以使所述一个或多个测试点参数在所述一个或多个关联取值中一一对应地取值。

6.一种模块测试装置，包括：

激活单元，被配置用于响应于接收到测试事件的测试指令，激活与模块的一个或多个测试点中的各个测试点相关的所述测试事件，以调用测试处理函数，其中，所述测试处理函数与所述模块中的一个或多个测试点相关，并且其中，所述模块测试装置还包括：

初始化单元，被配置用于在所述模块初始化时，将所述测试处理函数传送给所述一个或多个测试点中的各个测试点。

7.根据权利要求6所述的装置，其中，所述模块中设置有预定义的结构体，所述结构体包括测试点数量变量参数和测试点位置变量，其中，所述测试点数量变量参数被配置为具有与所述一个或多个测试点的数量相关的预设值，所述测试点位置变量被配置为能够被赋值为与所述一个或多个测试点的数量相关的多个取值中的任意一个，所述多个取值包括默认值和一个或多个关联取值。

8.一种电子设备，包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中

所述存储器存储有能够被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-5中任意一项所述的方法。

9.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行根据权利要求1-5中任一项所述的方法。

10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其中，所述计算机程序在被处理器执行时实现根据权利要求1-5中任一项所述的方法。