[发明专利]基于脉冲信号的旋转基线干涉仪相位标校方法有效
| 申请号： | 202110897904.9 | 申请日： | 2021-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN113552534B | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 李冬;高泽夫;毛飞龙;焦义文;马宏;吴涛;李超;孙宽飞 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学 |
| 主分类号： | G01S3/14 | 分类号： | G01S3/14 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 袁瑞霞 |
| 地址： | 101416 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 脉冲 信号 旋转 基线 干涉仪 相位 校方 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于脉冲信号的旋转基线干涉仪相位标校方法，采用AD采集卡采集相位数据，基线每旋转一周触发一次脉冲信号，其特征在于，从AD采集卡采集的相位数据点中搜索脉冲信号，以当前产生脉冲信号的时刻标校为当前基准旋转初始时刻，选取当前脉冲信号后的N点相位数据进行本周期的相位计算，然后跳过N/2点，搜索下一个周期的脉冲信号并进行该周期的相位计算，以此重复；其中，N为旋转基线相位干涉仪旋转一周时间T内AD采集卡采集的相位数据点总数。
2.如权利要求1所述的相位标校方法，其特征在于，T为1秒。
3.如权利要求1所述的相位标校方法，其特征在于，所述旋转基线干涉仪为旋转单基线干涉仪或旋转多基线干涉仪。
4.如权利要求1-3任意一项所述的相位标校方法，其特征在于，所述旋转基线干涉仪匀速旋转。
5.如权利要求1-3任意一项所述的相位标校方法，其特征在于，AD采集卡采样率为50Msps。
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