[发明专利]一种可分离电离层多模式混合传播的短波阵列天线衰落一致性测量方法

权利要求书

1.一种可分离电离层多模式混合传播的短波阵列天线衰落一致性测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，生成测量二进制序列：

连续生成1个m₁位的小m二进制序列和N个m₂位的小m二进制序列；

步骤2，对二进制序列进行2PSK调制：

将二进制序列调制成2PSK基带数字信号s(t)，其中1个m₁位的小m二进制序列对应的基带数字信号为s₁(t)，1个m₂位的小m二进制序列对应的基带数字信号为s₂(t)；

步骤3，发射测量信号：

在距离短波阵列天线大于300公里的地方进行测量信号发射；

步骤4，使用短波阵列天线接收测量信号：

短波阵列天线的每个阵列单元分别接收测量信号，并完成下变频调制，得到每个阵列单元的基带信号r_i(t)，其中i是第i个阵列单元；

步骤5，接收信号同步：

使用s₁(t)按照下式(1)对接收信号进行检测，

当y_i(t)＞η，其中y为检测系数，η为检测门限，则检测到测量信号，标记出测量信号起始时刻t₀；

步骤6，分离传播模式：

当接收到的信号存在多模式混合传播时，步骤5中存在第二个时刻t₁满足y_i(t₁)＞η，当时，t₁对应的接收位置是第二个传播模式；

步骤7，求解单阵列单元单模式的信道冲激响应：

由步骤6中给出的两个传播模式对应的时刻t₀和t₁，根据下式(2)和(3)得出每个天线阵列单元中，每个传播模式的信道冲激响应h；

其中，T为小m二进制序列的总时长，n是N个m₂位的小m二进制序列的序号；

步骤8，计算各阵列单元间的衰落一致性：

由步骤7的计算结果，使用下式(4)和(5)计算不同阵列单元间相同传输模式的衰落一致性：

其中，ρ为相关系数，j是第j个阵列单元；

当相关性大于某一门限时，认为短波阵列天线的衰落一致性较好，否则，认为短波阵列天线的衰落一致性较差，不满足衰落一致性要求，需要调整阵列单元天线。