[发明专利]方壳电芯化成设备气密性测堵的方法在审
申请号: | 202110902723.0 | 申请日: | 2021-08-06 |
公开(公告)号: | CN113625357A | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 肖映宏 | 申请(专利权)人: | 深圳市新威尔电子有限公司 |
主分类号: | G01V9/00 | 分类号: | G01V9/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518049 广东省深圳市福田区梅林街道梅都*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 方壳电芯 化成 设备 气密性 方法 | ||
1.一种方壳电芯化成设备气密性测堵的方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1:将装好在方形电芯的拘束治具放入化成检测设备;
S2:点击化成检测设备上的化成测堵软件开始测堵;
S3:将步骤S3中化成测堵软件开始测堵,化成测堵软件检测压床是否打开状态,若未打开状态时,则发送命令到压床执行打开操作;
S4:若打开状态时,则化成测堵软件下发关闭微正压、低真空,打开高真空命令到压床执行抽高真空操作,然后等待一段时间;
S5:当化成测堵软件从压床采集当前的负压值,若采集到的负压值高于预先设定好的标准值,则认为压床吸嘴堵塞,测堵不合格,下面流程不再执行;
S6:当化成测堵软件下发关闭高真空指令到压床,然后再下发打开低真空指令到压床,执行抽低真空操作,等待一段时间;
S7:当化成测堵软件从压床采集当前的负压值,若采集到的负压值高于预先设定好的标准值,则认为压床吸嘴堵塞,测堵不合格;若采集到的负压值低于预先设定好的标准值,则认为压床吸嘴堵塞,测堵合格。
2.根据权利要求1所述的方壳电芯化成设备气密性测堵的方法,其特征在于:所述步骤S7中当化成测堵软件从压床采集当前的负压值,若采集到的负压值高于预先设定好的标准值时,化成测堵软件关闭,并且下发关闭高真空指令到压床,根据预先设置的时间,等待一段时间。
3.根据权利要求2所述的方壳电芯化成设备气密性测堵的方法,其特征在于:当化成测堵软件采集当前的负压值作为起始负压值,开始计时,根据预先设置的时间,当化成测堵软件采集预先设置的时间之后的负压值作为结束负压值,结束计时,测堵稳压时间结束。
4.根据权利要求3所述的方壳电芯化成设备气密性测堵的方法,其特征在于:当化成测堵软件采集测堵稳压时间结束的负压值,若化成测堵软件检测压床是否在微正压上下限,若未在微正压上下限时,则认为压床吸嘴堵塞,测堵不合格,若是在微正压上下限时,则压床吸嘴堵塞通过,并且开始抽真空。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市新威尔电子有限公司,未经深圳市新威尔电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110902723.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。