[发明专利]方壳电芯化成设备气密性测堵的方法在审

专利信息
申请号: 202110902723.0 申请日: 2021-08-06
公开(公告)号: CN113625357A 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 肖映宏 申请(专利权)人: 深圳市新威尔电子有限公司
主分类号: G01V9/00 分类号: G01V9/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518049 广东省深圳市福田区梅林街道梅都*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 方壳电芯 化成 设备 气密性 方法
【权利要求书】:

1.一种方壳电芯化成设备气密性测堵的方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1:将装好在方形电芯的拘束治具放入化成检测设备;

S2:点击化成检测设备上的化成测堵软件开始测堵;

S3:将步骤S3中化成测堵软件开始测堵,化成测堵软件检测压床是否打开状态,若未打开状态时,则发送命令到压床执行打开操作;

S4:若打开状态时,则化成测堵软件下发关闭微正压、低真空,打开高真空命令到压床执行抽高真空操作,然后等待一段时间;

S5:当化成测堵软件从压床采集当前的负压值,若采集到的负压值高于预先设定好的标准值,则认为压床吸嘴堵塞,测堵不合格,下面流程不再执行;

S6:当化成测堵软件下发关闭高真空指令到压床,然后再下发打开低真空指令到压床,执行抽低真空操作,等待一段时间;

S7:当化成测堵软件从压床采集当前的负压值,若采集到的负压值高于预先设定好的标准值,则认为压床吸嘴堵塞,测堵不合格;若采集到的负压值低于预先设定好的标准值,则认为压床吸嘴堵塞,测堵合格。

2.根据权利要求1所述的方壳电芯化成设备气密性测堵的方法,其特征在于:所述步骤S7中当化成测堵软件从压床采集当前的负压值,若采集到的负压值高于预先设定好的标准值时,化成测堵软件关闭,并且下发关闭高真空指令到压床,根据预先设置的时间,等待一段时间。

3.根据权利要求2所述的方壳电芯化成设备气密性测堵的方法,其特征在于:当化成测堵软件采集当前的负压值作为起始负压值,开始计时,根据预先设置的时间,当化成测堵软件采集预先设置的时间之后的负压值作为结束负压值,结束计时,测堵稳压时间结束。

4.根据权利要求3所述的方壳电芯化成设备气密性测堵的方法,其特征在于:当化成测堵软件采集测堵稳压时间结束的负压值,若化成测堵软件检测压床是否在微正压上下限,若未在微正压上下限时,则认为压床吸嘴堵塞,测堵不合格,若是在微正压上下限时,则压床吸嘴堵塞通过,并且开始抽真空。

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