[发明专利]一种射频开关的谐波测试方法及装置

说明书

本发明涉及一种射频开关的谐波测试方法及装置，所述方法至少包括：基于接入被测件前与接入被测件后的谐波信号数据变化的矢量差来确定受所述被测件接入的影响产生的谐波信号。与现有技术直接通过高质量信号源来测试被测件产生的谐波信号相比，本发明能够适用于不同质量的信号源，并且通过谐波信号的变化的数据处理来得到准确的谐波信号，数据处理步骤少，误差小。本发明降低了产生高质量信号源的设备的成本，并且取消了滤波装置，使得谐波测试装置更加简化，操作简单，体积更小。

技术领域

本发明涉及射频集成电路技术领域，尤其涉及一种射频开关的谐波测试方法及装置。

背景技术

在进行射频芯片测试的时候有时候会需要测试仅由被测件接入影响产生的谐波信号。一般而言，信号发生器发出信号之后，由于本身的非线性的影响会产生若干个不同频率的谐波，接入被测件之后由于被测件的影响又会产生若干个不同频率的谐波，那么就很有必要分清楚哪些是我们所需要的谐波。最理想的现有方案是使用高质量的信号源，这种信号源发出之后是没有谐波干扰的，接入被测件之后产生的谐波就是我们所需要的谐波了。然而发生高质量的信号源是需要极高的成本的，放在平时的测量当中也不太现实。还有一种现有方案是载入带通滤波器，但是滤波器的体积是与其通过的功率成正比的，所以在实际测量过程中可能会需要多个大体积的滤波器，成本较高，而且结构复杂。

例如，中国专利CN110632544A公开了一种谐波测试系统，包括检定仪、第一三相变压器、第一录波仪、CVT设备、第二录波仪、分压电路、第三录波仪和第一微处理芯片，检定仪的输出级与第一录波仪的输入级和第一三相变压器的二次侧电连接；第一录波仪的输出级与微处理芯片的第一输入级电连接；第一三相变压器的三次侧与CVT设备的输入级电连接；CVT设备的输出级与第二录波仪的输入级电连接；第二录波仪的输出级与微处理芯片的第二输入级电连接；第一三相变压器的三次侧与分压电路的输入级电连接；分压电路的输出级与第三录波仪的输入级电连接；第三录波仪的输出级与微处理芯片的第三输入级电连接。该发明通过对三种信号进行比对，从而得到CVT设备内部的谐波产出情况。该系统依然需要高质量的信号源。

中国专利CN102565672B一种基于PXI测试设备的射频功率放大器谐波测试电路，包括PXI测试设备和被测射频功率放大器，PXI测试设备和被测射频功率放大器之间连接有谐波信号获取电路，谐波信号获取电路和PXI测试设备之间还连接有基波和载波抑制电路，谐波信号获取电路采用耦合器实现，耦合器从被测射频功率放大器输出信号上耦合获取完整的信号，谐波信号获取电路获取的信号经基波和载波抑制电路进入PXI测试设备。采用该电路的测试板卡，可降低谐波测试部分的电路复杂性，进而降低了测试板卡的成本，同时经过该电路处理过的谐波信号对PXI测试设备的要求更低，进一步的降低了测试成本。该系统依然需要高质量的信号源来完成测试。

因此，现有技术中测试谐波信号的成本太高，如何提供一种成本较低且测试质量较好的谐波信号测试方法及装置是当前没有解决的技术问题。

此外，一方面由于本领域技术人员的理解存在差异；另一方面由于发明人做出本发明时研究了大量文献和专利，但篇幅所限并未详细罗列所有的细节与内容，然而这绝非本发明不具备这些现有技术的特征，相反本发明已经具备现有技术的所有特征，而且申请人保留在背景技术中增加相关现有技术之权利。

发明内容

现有技术中，一般采用高质量的信号源来进行被测件的谐波测试。由于高质量信号源不存在谐波，那么检测到的谐波就是被测件产生的。但是高质量信号源成本较高，在日常测量中不能够频繁进行。现有技术还通过载入带通滤波器来进行谐波测试，但是滤波器的体积是与其通过的功率成正比的，所以在实际测量过程中可能会需要多个大体积的滤波器，成本较高，而且结构复杂。现有技术中，本领域技术人员一般集中于提高仪器的过滤精度来过滤掉有干扰的谐波，总是希望在仪器测量后能够直接获得所需要的谐波，而忽略了对测得谐波数据进行数据处理的技术手段。