[发明专利]超声爬波检测系统的分辨力测试试块与测试方法

权利要求书

1.一种超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述试块包括第一检测面、第二检测面和显示面，其中：

所述显示面上开设有同心设置的第一圆弧和第二圆弧，用于通过爬波探头校正爬波检测系统的测量距离；

所述第一检测面上开设有多个第一刻槽,多个所述第一刻槽之间的间距不同，且任意两个所述第一刻槽在同一平面上的投影没有重叠区域；

所述第二检测面上开设有多个第二刻槽，多个所述第二刻槽之间的间距不同，且任意两个所述第二刻槽及任意两个所述第一刻槽与所述第二刻槽在所述同一平面上的投影均没有重叠区域。

2.根据权利要求1所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述第一圆弧的半径大小为所述第二圆弧的半径大小的一半。

3.根据权利要求2所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述第一检测面和所述第二检测面背向设置，所述显示面为与所述第一检测面及所述第二检测面均相连接的端面，所述第一刻槽的宽度和深度均相同，且所述第一刻槽的宽度为所述第一检测面宽度的1/3，所述第二刻槽的宽度和深度均相同，且所述第二刻槽的宽度为所述第二检测面宽度的1/3。

4.根据权利要求3所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，任意两个所述第二刻槽之间的间距大小均与任意两个所述第一刻槽之间的间距大小不相等。

5.根据权利要求4所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述第一刻槽为五个且包括第一中心刻槽，所述第一中心刻槽位于所述第一检测面的中心；所述第二刻槽为十个，平均分为两组，其中，第一组中的所述第二刻槽包括第二中心刻槽，第二组中的所述第二刻槽包括第三中心刻槽，所述第二中心刻槽和所述第三中心刻槽分别与所述第一中心刻槽之间的间距相同，且均为所述第一检测面长度的1/4。

6.根据权利要求5所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述第一刻槽中的其余四个所述第一刻槽与所述第一中心刻槽之间的间距分别为0.5mm，1mm，1.5mm，2mm，所述第一组中的其余四个所述第二刻槽与所述第二中心刻槽之间的距离分别为3mm，4mm，5mm，6mm，所述第二组中的其余四个所述第二刻槽与所述第三中心刻槽之间的间距分别为7mm，8mm，9mm，10mm。

7.根据权利要求6所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述第一圆弧的半径为6mm～20mm。

8.根据权利要求7所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述第一刻槽的深度和所述第二刻槽的深度相等，且均为0.5mm～8mm；所述第一刻槽的宽度和所述第二刻槽的宽度均相等，且均为6mm～20mm；所述第一中心刻槽到所述端面的距离大于等于60mm。

9.根据权利要求8所述的超声爬波检测系统的分辨力测试试块，其特征在于，所述试块为经过无损探伤检测后的合格试块。

10.一种超声爬波检测系统的分辨力测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

将爬波探头设置于所述试块的端面的圆弧区，将仪器测量距离校准为50mm爬波声程范围；

将爬波探头设置于所述试块的所述第一刻槽区域或所述第二刻槽区域，找到同一平面上任一间隔的两个所述第一刻槽的两反射回波或两个所述第二刻槽的两反射回波，移动所述爬波探头使所述两反射回波的波峰等高，并调至显示屏幕面板的100％高度；

将所述两反射回波的波谷不高于所述显示屏幕面板的5％高度作为分辨力认定条件，满足所述条件的位于所述同一平面的两个所述第一刻槽或两个所述第二刻槽之间的间距即为分辨力。