[发明专利]镜头阴影校正方法、装置和电子设备

权利要求书

1.一种镜头阴影校正方法，其特征在于，所述方法包括：

获取第一图像，并获取与第二图像对应的目标焦距，所述第一图像为摄像装置在第一焦距下的成像，所述第二图像为摄像装置在所述目标焦距下的成像，其中，所述摄像装置的焦距可调节；

根据所述第一焦距和所述目标焦距的对应关系，得到参照图像；

根据所述参照图像中的图像数据对所述第二图像进行校正；

输出校正后的第二图像。

2.根据权利要求1所述的一种镜头阴影校正方法，其特征在于，所述根据所述第一焦距和所述目标焦距的对应关系，得到参照图像，包括：

获取所述第一焦距和所述目标焦距的对应关系；

根据所述对应关系，得到所述第一图像的视场角和所述第二图像的视场角之间的倍率关系；

根据所述倍率关系对所述第一图像进行裁剪，得到与所述第二图像的视场角相同的参照图像，所述第一焦距小于所述目标焦距。

3.根据权利要求1所述的一种镜头阴影校正方法，其特征在于，所述根据所述参照图像中的图像数据对所述第二图像进行校正，包括：

获取所述参照图像中的亮度分布数据以及第二图像中的亮度分布数据；

根据所述参照图像中的亮度分布数据以及第二图像中的亮度分布数据，得到校正补偿表；

根据所述校正补偿表对所述第二图像进行校正。

4.根据权利要求1所述的一种镜头阴影校正方法，其特征在于，所述根据所述参照图像中的图像数据对所述第二图像进行校正，还包括：

提取所述参照图像中的画面特征点信息；

获取所述第二图像中的画面特征点信息；

根据所述参照图像中的画面特征点信息对所述第二图像中的画面特征点信息进行校正。

5.根据权利要求4所述的一种镜头阴影校正方法，其特征在于，所述根据所述参照图像中的画面特征点信息对所述第二图像中的画面特征点信息进行校正，包括：

获取同一位置的所述参照图像和所述第二图像的特征点信息，其中，所述参照图像和所述第二图像对齐设置；

对比所述参照图像和所述第二图像的特征点信息，根据所述参照图像的特征点信息对所述第二图像的特征点信息进行校正。

6.一种镜头阴影校正的装置，其特征在于，包括：

数据获取模块，用于获取第一图像，并获取与第二图像对应的目标焦距，所述第一图像为摄像装置在第一焦距下的成像，所述第二图像为摄像装置在所述目标焦距下的成像；

图像处理模块，用于根据所述第一焦距和所述目标焦距的对应关系，得到参照图像，其中，所述摄像装置的焦距可调节；

校正模块，用于根据所述参照图像中的图像数据对所述第二图像进行校正；

输出模块，用于输出校正后的第二图像。

7.根据权利要求6所述的一种镜头阴影校正的装置，其特征在于，

所述图像处理模块还用于：获取所述第一焦距和所述目标焦距的对应关系；根据所述对应关系，得到所述第一图像的视场角和所述第二图像的视场角之间的倍率关系；根据所述倍率关系对所述第一图像进行裁剪，得到与所述第二图像的视场角相同的参照图像，所述第一焦距小于所述目标焦距。

8.根据权利要求6所述的一种镜头阴影校正的装置，其特征在于，

所述校正模块还用于：获取所述参照图像中的亮度分布数据；根据所述亮度分布数据，得到校正补偿表；根据所述校正补偿表对所述第二图像进行校正。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器，存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求1-5所述的一种镜头阴影校正方法的步骤。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求1-5所述的一种镜头阴影校正方法的步骤。