[发明专利]位移检测方法、装置、设备和存储介质有效
申请号: | 202110912433.4 | 申请日: | 2021-08-10 |
公开(公告)号: | CN113639685B | 公开(公告)日: | 2023-10-03 |
发明(设计)人: | 吴海腾;王永力;高灿;罗福良 | 申请(专利权)人: | 杭州申昊科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/02 | 分类号: | G01B21/02 |
代理公司: | 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463 | 代理人: | 李飞 |
地址: | 311100 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位移 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种位移检测方法,其特征在于,包括:
获取待测组件的影像信息,所述待测组件包括第一部件和第二部件,所述第一部件和所述第二部件上分别设置有防松标记;
识别得到所述影像信息中所述第一部件上第一段防松标记信息和所述第二部件上第二段防松标记信息;
将所述第一段防松标记信息和所述第二段防松标记信息做立体空间投影处理,获得空间投影信息;
根据所述空间投影信息确定与初始连接状态相比,所述第一部件与所述第二部件之间是否发生相对位移。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述防松标记为防松线段;所述第一部件连接于所述第二部件,在初始连接状态下,所述防松线段在所述第一部件和所述第二部件的结合处连续;所述待测组件包括多个;所述识别得到所述影像信息种所述第一部件上第一段防松标记信息和所述第二部件上第二段防松标记信息包括:
识别所述多个待测组件的多个影像信息,分别提取每个所述影像信息中的防松线段的数量;
从所述多个影像信息中选取所述防松线段的数量大于1的候选影像集合;
分别提取所述候选影像集合的每个候选影像中所述第一部件上第一段防松线信息和所述第二部件上第二段防松线信息。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述分别提取所述候选影像集合的每个候选影像中所述第一部件上第一段防松线信息和所述第二部件上第二段防松线信息包括:
分别计算每个所述候选影像中面积最大的两段目标防松线之间的距离;
从所述候选影像集合中选取所述两段目标防松线之间的距离大于预设阈值的目标影像集合;
分别提取所述目标影像集合的每个目标影像中所述第一部件上第一段防松线信息和所述第二部件上第二段防松线信息。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述识别得到所述影像信息中所述第一部件上第一段防松标记信息,包括:
获取所述第一部件上第一段防松线的最小外接矩形,将所述最小外接矩形沿着所述第一段防松线方向的中心线作为所述第一段防松线信息。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述第一段防松标记信息和所述第二段防松标记信息做立体空间投影处理,获得空间投影信息,包括:
根据所述影像信息,在所述第一部件中选取一个基准点,根据所述基准点和所述第二段防松线信息,在所述第二部件限定的基准平面内确定一条基准线;
根据所述第一段防松线信息确定所述第一段防松线在所述基准平面内的防松线投影。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述基准点为在所述影像信息中所述第一部件的顶面中心点;所述根据所述基准点和所述第二段防松线信息,在所述第二部件限定的基准平面内确定一条基准线,包括:
获取在所述影像信息中所述第一部件的顶面中心点在所述第二部件上的投影点;
选取所述第二部件上所述第二段防松线段轮廓点集中与所述投影点距离最小的目标点,连接所述目标点与所述防松线投影的端点,生成所述基准线。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述空间投影信息确定与初始连接状态相比,所述第一部件与所述第二部件之间是否发生相对位移,包括:
根据所述基准线和所述防松线投影之间夹角,确定与所述初始连接状态相比,所述第一部件与所述第二部件之间是否发生相对位移。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述根据所述基准线和所述防松线投影之间夹角,确定与初始连接状态相比,所述第一部件与所述第二部件之间是否发生相对位移,包括:
若所述基准线与所述防松线投影之间夹角大于预设角度,确定所述第一部件与所述第二部件相较于所述初始连接状态发生相对位移,所述基准线与所述防松线投影之间夹角与所述相对位移程正相关。
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