[发明专利]一种用于行波管高能量小半径电子注的检测方法有效
申请号: | 202110916831.3 | 申请日: | 2021-08-11 |
公开(公告)号: | CN113702789B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 胡玉禄;石万里;邓文凯;杨中海;黄桃;李斌 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R31/25 | 分类号: | G01R31/25 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 闫树平 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 行波 高能量 半径 电子 检测 方法 | ||
1.一种用于行波管高能量小半径电子注的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1.对待测行波管电子枪进行仿真得到其注腰位置Zw和注腰半径Rw,再将电子透镜组和荧光屏依次加载至待测行波管电子枪的模型末端,进行整体建模;
所述电子透镜组由第一电极片M1和第二电极片M2组成,电极片的面积大于电子注在对应电极片位置时的横截面,两电极片均设有十字狭缝,且十字狭缝的交汇处为一个圆通孔;电极片上圆通孔的圆心和电子枪同轴,且电极片、荧光屏均与待测行波管电子枪的末端平行;
第一电极片M1靠近电子枪的末端,第二电极片M2靠近荧光屏;荧光屏用于获取电子注在其位置处的所有电子,且不影响其位置之前的电子注的状态;
第一电极片M1的电压为U1,厚度为H1,圆通孔的半径为R1,十字狭缝的缝宽为a1,圆通孔的圆心到十字狭缝顶端的长度为b1;第二电极片M2的电压为U2,厚度为H2,圆通孔的半径为R2,十字狭缝的缝宽为a2,圆通孔的圆心到十字狭缝顶端的长度为b2;M1前端至电子枪末端距离为L1,M1末端至M2前端距离为L2,M2末端至荧光屏前端距离为L3,L4为M1末端与荧光屏前端之间的距离;M1末端的轴向坐标设为z4;
U1和电子枪末端的电压相等,U2为200-500V,荧光屏和U2的电压相等;
z4=Zw,L2由M1和M2之间的压差决定,以每1000V压差距离为1mm计数,L2需满足如下要求:L2|U1-U2|/1000,L3初始保持在2mm-8mm;0.1mmH10.5mm,H1/2≤H2≤2H1,Rw/2R1Rw/3,a1≤R1,b1≥3*R1,2*RwR23*Rw,a2≤R2,b2≥3*R2;
S2.通过对S1所建模型仿真分别获取荧光屏与M1处的电子注轴向截面电子分布图,并得到图中所有电子的坐标数据,计算出这两幅图的h,M1处为h1,荧光屏处为h2,h的具体计算方法如下:
根据轴向截面电子分布图中所有电子的坐标数据,采用散点轮廓算法获取截面电子分布图的外部轮廓,统计轮廓上的点,求出各点到图中心的距离,取其平均值定为h;
S3.保持L1,L2,L3,L4不变,测出h1,h2,取N1=h2/h1,N1为电子注轴向截面的放大倍数;改变L3,上述数据测出n组n≥3,则L3,L4,h1,h2,N1均为一行n列的向量;然后对N1,L4进行高斯拟合,得到对应的函数式(1)称为电子注截面有效增益函数,定义域为[0,20]终点大于M2轴向坐标;
其中,a1,b1,c1为实常数,SSE为和方差;R-square为单变量确定系数,取值范围为[0,1],Adjusted R-square为多变量确定系数,RMSE为均方根;
S4.将L3、z4恢复至步骤S3之前,测量荧光屏处h的数据,设为h′2,将L4代入电子注截面有效增益函数,求出此时M1与荧光屏处电子注半径的放大倍数N2,根据h′2与N2计算出此时M1处的h数据,设为h′1;
z4前后移动6-14mm范围内再取F个横截面,求出F个横截面相应的h数据,加上h′1构成一行16列的向量F≥4,并将16列的向量设为h3,将h3对应的轴坐标的向量设为z3,对其进行4阶的傅里叶拟合得到电子注包络函数公式(2);
其中w为误差余项,a0~b4为常系数,其余参量与式(1)意义相同;
S5.对S4所得电子注的注腰半径和注腰位置增加修正常量,修正常量为注腰半径数值加上0.05~0.15mm,注腰位置减去2.95mm~3.05mm后,则修正后的数据即为最终的电子注的注腰半径和注腰位置。
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