[发明专利]芯片测试防呆方法及系统

权利要求书

1.一种芯片测试防呆方法，其特征在于，应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括测试机、控制器和分类机，所述测试机包括多个单板自动化测试设备ATE，所述方法包括：

所述控制器分别接收来自多个单板ATE的握手信号，得到多个握手信号，每个握手信号包括第一握手ID，所述第一握手ID用于标识所述单板ATE；

所述控制器根据所述第一握手ID判断所述多个单板ATE是否与所述控制器握手成功；

若所述多个单板ATE与所述控制器均握手成功，所述控制器进行芯片测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制器根据所述第一握手ID判断所述多个单板ATE是否与所述控制器握手成功，包括：

所述控制器将多个所述第一握手ID分别与多个第二握手ID进行比较，每个第二握手ID为所述控制器存储的标识所述单板ATE的握手ID；

若目标第一握手ID与目标第二握手ID相同，则确定目标单板ATE与所述控制器握手成功，否则确定所述目标单板ATE与所述控制器握手失败，所述多个第一握手ID包括所述目标第一握手ID，所述多个第二握手ID包括所述目标第二握手ID，所述目标单板ATE为所述目标第一握手ID和所述目标第二握手ID标识的单板ATE。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述若所述多个单板ATE与所述控制器均握手成功，所述控制器进行芯片测试，包括：

若所述多个单板ATE与所述控制器均握手成功，所述控制器将接收来自所述多个单板ATE的多个BIN信号向所述分类机发送。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述多个单板ATE中的任一单板ATE与所述控制器握手失败，所述控制器将接收来自所述多个单板ATE的多个BIN信号均设置为高电平。

5.一种芯片测试防呆方法，其特征在于，应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括测试机、控制器和分类机，所述测试机包括多个单板自动化测试设备ATE，所述方法包括：

所述多个单板ATE中每个单板ATE通过第一BIN信号接口向所述控制器发送握手信号，所述握手信号包括握手ID，所述握手ID用于标识所述单板ATE。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述多个单板ATE中每个单板ATE通过所述第一BIN信号接口或第二BIN信号接口向所述控制器发送BIN信号。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述多个单板ATE中每个单板ATE通过所述第二BIN信号接口向所述控制器发送时钟同步信号。

8.一种芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统包括测试机、控制器和分类机，所述测试机包括多个单板自动化测试设备ATE，所述控制器用于执行如权利要求1-4任一项所述的方法的步骤，所述多个单板ATE用于执行如权利要求5-7任一项所述的方法的步骤。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器、存储器和通信接口，所述存储器存储有一个或多个程序，并且所述一个或多个程序由所述处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行如权利要求1-4或如权利要求5-7任一项所述的方法中的步骤的指令。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行如权利要求1-4或如权利要求5-7任一项所述的方法的步骤。