[发明专利]偏置点检测方法、控制方法、检测电路、控制电路及雷达

权利要求书

1.一种偏置点检测方法，适于检测MZ调制器是否工作于预设偏置点，其特征在于，包括：

在所述MZ调制器的偏置电压上加载方波微扰信号；

检测所述方波微扰信号不同电平处的输出光强，以判断所述MZ调制器的偏置点相对于预设偏置点是否发生偏移。

2.根据权利要求1所述的偏置点检测方法，其特征在于，所述方波微扰信号包括第一电平和第二电平；

所述检测所述方波微扰信号不同电平处的输出光强，以判断所述MZ调制器的偏置点相对于预设偏置点是否发生偏移，包括：

在所述第一电平对应的第一光强与所述第二电平对应的第二光强不相等时，确定所述MZ调制器的偏置点相对于所述预设偏置点发生偏移。

3.一种偏置点控制方法，其特征在于，包括：

采用权利要求1或2所述的偏置点检测方法进行检测；

在MZ调制器的偏置点发生偏移时，提供补偿信号，以调整所述MZ调制器的偏置电压。

4.根据权利要求3所述的偏置点控制方法，其特征在于，所述预设偏置点为最小传输点；

采用权利要求2所述的偏置点检测方法进行检测，其中所述第一电平高于所述第二电平；

所述在所述MZ调制器的偏置点发生偏移时，提供补偿信号，以调整所述MZ调制器的偏置电压，包括：

在所述第一光强大于所述第二光强时，降低所述MZ调制器的偏置电压；

在所述第一光强小于所述第二光强时，提高所述MZ调制器的偏置电压。

5.根据权利要求3所述的偏置点控制方法，其特征在于，所述预设偏置点为最大传输点；

采用权利要求2所述的偏置点检测方法进行检测，其中所述第一电平高于所述第二电平；

所述在所述MZ调制器的偏置点发生偏移时，提供补偿信号，以调整所述MZ调制器的偏置电压，包括：

在所述第一光强大于所述第二光强时，提高所述MZ调制器的偏置电压；

在所述第一光强小于所述第二光强时，降低所述MZ调制器的偏置电压。

6.一种偏置点检测电路，与MZ调制器耦接，所述MZ调制器适于工作于预设偏置点，其特征在于，包括：

方波微扰模块，耦接于所述MZ调制器的偏置端，适于输出方波微扰信号至所述MZ调制器的偏置端，使得所述MZ调制器的偏置电压随着所述方波微扰信号波动；

采样模块，耦接于所述MZ调制器的输出端，适于检测所述方波微扰信号不同电平处的输出光强，以判断所述MZ调制器的偏置点相对于所述预设偏置点是否发生偏移。

7.根据权利要求6所述的偏置点检测电路，其特征在于，所述采样模块包括：

探测单元，适于探测所述MZ调制器输出的光信号，并将所述光信号转换为电信号；

采样单元，与探测单元耦接，分别获取所述方波微扰信号不同电平对应的所述电信号，输出采样信号。

8.根据权利要求7所述的偏置点检测电路，其特征在于，所述探测单元包括：

光电二极管，适于将所述MZ调制器输出的光信号转换为电信号；

跨阻放大器，适于对所述电信号进行放大处理。

9.根据权利要求7所述的偏置点检测电路，其特征在于，所述采样单元包括：

第一采样电容，耦接于所述探测单元和地之间，适于在所述方波微扰信号的第一电平处采样获得第一采样信号；

第二采样电容，耦接于所述探测单元和地之间，适于在所述方波微扰信号的第二电平处采样获得第二采样信号。

10.根据权利要求9所述的偏置点检测电路，其特征在于，所述采样单元还包括：

第一电压跟随器，适于将所述第一采样信号进行缓冲；

第二电压跟随器，适于将所述第二采样信号进行缓冲。