[发明专利]数据库的筛查方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供了一种数据库的筛查方法、装置、电子设备及存储介质，在数据库的筛查方法中，按照预设的时间周期，采集每一个数据库的性能数据。然后针对每一个数据库，对采集到的性能数据进行解析，得到数据库的存储访问时延。检测每一个数据库的存储访问时延是否大于预设的阈值，若检测出某个数据库的存储访问时延大于预设的阈值，则获取与目标数据库共用一个存储磁盘阵列的所有数据库的性能数据；其中，目标数据库为存储访问时延大于预设的阈值的数据库。最后基于与目标数据库共用一个存储磁盘阵列的所有数据库的性能数据，获取所有数据库在预设时间段内的性能参数，筛查出在预设时间段内性能参数变化最大的数据库。

技术领域

本申请涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种数据库的筛查方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在大型数据中心中，通常会存在多台存储磁盘阵列，每台存储磁盘阵列都会供给多个数据库使用的情况，当某个数据库出现异常高I/O(Input/Output，输入/输出)的时候，会导致共用同一个存储磁盘阵列的其它数据库出现I/O响应变慢的问题。因此，如果出现某个数据库的I/O响应突然变慢的情况，则需要排查与当前数据库共用一个存储磁盘阵列的其它数据库是否出现数据异常，从而导致了当前数据库的I/O响应变慢。

在现有技术中，当出现某个数据库I/O响应变慢时，通常需要通过存储管理团队提供与当前数据库共用一个存储磁盘阵列的数据库清单，然后由工作人员对与当前数据库共用一个存储磁盘阵列的数据库进行逐一排查，整体排查效率较低、耗时较长。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种数据库的筛查方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有技术中当出现某个数据库I/O响应变慢时，需要工作人员对与当前数据库共用一个存储磁盘阵列的数据库进行逐一排查，整体排查效率较低、耗时较长的问题。

为实现上述目的，本申请提供如下技术方案：

本申请第一方面公开了一种数据库的筛查方法，包括：

按照预设的时间周期，采集每一个数据库的性能数据；

针对每一个数据库，对采集到的性能数据进行解析，得到所述数据库的存储访问时延；

检测每一个所述数据库的存储访问时延是否大于预设的阈值；

若检测出某个数据库的存储访问时延大于预设的阈值，则获取与目标数据库共用一个存储磁盘阵列的所有数据库的性能数据；其中，所述目标数据库为存储访问时延大于所述预设的阈值的数据库；

基于与所述目标数据库共用一个存储磁盘阵列的所有数据库的性能数据，获取所有数据库在预设时间段内的性能参数，所述性能参数包括：IO流量和/或IO次数；

筛查出在预设时间段内所述性能参数变化最大的数据库。

可选的，上述的方法，所述采集每一个数据库的性能数据之后，还包括：

获取采集到的性能数据的数据量；

基于所述采集到的性能数据的数据量，制定所述性能数据的存储周期。

可选的，上述的方法，所述若检测出某个数据库的存储访问时延大于预设的阈值，则获取与目标数据库共用一个存储磁盘阵列的所有数据库的性能数据之后，还包括：

根据所述目标数据库当前时刻的性能数据，生成告警信息，并发送到告警模块。

可选的，上述的方法，所述筛查出在预设时间段内所述性能参数变化最大的数据库，包括：

基于与所述目标数据库共用一个存储磁盘阵列的所有数据库在预设时间段内的性能参数，生成与目标数据库共用一个存储磁盘阵列的所有数据库的性能变化趋势图；

利用所述性能变化趋势图，筛查出在所述预设时间段内所述性能参数变化最大的数据库。