[发明专利]一种划痕测试装置及划痕测试方法在审

专利信息
申请号: 202110924605.X 申请日: 2021-08-12
公开(公告)号: CN113640116A 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 武晓刚;薛艳茹;王松源;钟浩;燕杨;孙玉琴;郭媛;张美珍;王小斌;王艳芹;李鹏翠;秦迎泽;卫小春;陈维毅 申请(专利权)人: 太原理工大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/02
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 李胜强
地址: 030000 *** 国省代码: 山西;14
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 划痕 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种划痕测试装置,其特征在于:包括滑轨、弹力计和位移传感器,所述弹力计与所述滑轨滑动连接,所述弹力计下端的压头用于压入测试试样,所述位移传感器用于测量所述压头压入测试试样的深度,所述弹力计沿所述滑轨滑动,使得所述压头在测试试样上形成划痕。

2.根据权利要求1所述的划痕测试装置,其特征在于:所述划痕测试装置还包括载物台,所述载物台上设置有凹槽,所述凹槽用于放置测试试样。

3.根据权利要求1所述的划痕测试装置,其特征在于:所述划痕测试装置还包括电机,所述电机驱动所述弹力计沿所述滑轨滑动。

4.根据权利要求1所述的划痕测试装置,其特征在于:所述压头呈半球形;所述压头采用不锈钢制成。

5.根据权利要求1所述的划痕测试装置,其特征在于:所述划痕测试装置还包括位移显示器,所述位移显示器与所述位移传感器电连接,所述位移显示器用于显示所述压头压入测试试样的深度。

6.根据权利要求1所述的划痕测试装置,其特征在于:所述位移传感器的线性度小于或等于0.5%。

7.根据权利要求1所述的划痕测试装置,其特征在于:所述测试试样的形状为长方体。

8.根据权利要求1所述的划痕测试装置,其特征在于:所述压头的中心线垂直于测试试样的上表面。

9.一种采用如权利要求1-8任一项所述的划痕测试装置的划痕测试方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤一,将弹力计的压头压入测试试样;

步骤二,滑轨带动弹力计在测试试样上水平滑动;

步骤三,通过计算得出测试试样的滑动接触刚度K为:

其中,p为电机的功率;v为压头的移动速度;k1为压头在测试试样上移动时产生的滑动摩擦力大小与压头的移动速度v的二次方之间的比例系数;S为压头与测试试样的接触面积;R为压头的半径;δ为压头压入测试试样的深度。

10.根据权利要求9所述的划痕测试方法,其特征在于:所述步骤三中,计算测试试样的滑动接触刚度K的过程包括:

a,假设测试试样的滑动接触刚度为K,压头与测试试样的接触面积为S,则压头所受弹力F为:

F=KS

其中,压头所受弹力F通过弹力计读出;

b,压头所在的球面投影到平面上,建立直角坐标系,构建函数关系式为:

x2+(y-R)2=R2

其中,x为压头在X轴的投影尺寸,y为压头在Y轴的投影尺寸;

c,用积分的方法计算压头与测试试样的接触面积S,由对称性可知,积分式只需表示1/4倍的接触面积然后再乘以倍数:

d,通过换元的方法使积分式得到化简,积分上下限随之变化:

e;换元后的积分式为:

f;积分后的结果为:

g;代入参数,得到接触面积S与压痕深度δ之间的关系为:

h;压头在测试试样上移动时产生的滑动摩擦力f的大小与压头的移动速度v有关,假设为二次函数关系,即:

f=k1v2

i;根据压头所受电机的推力、滑动摩擦力及弹力之间的关系,得到平衡关系式为:

j;整理后得到测试试样的滑动接触刚度K的表达式为:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于太原理工大学,未经太原理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110924605.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top