[发明专利]材料本构模型的确定方法、装置、电子设备和介质

权利要求书

1.一种材料本构模型的确定方法，其特征在于，包括：

从已有材料数据库的应力应变曲线中确定材料试样的基准曲线；

对所述基准曲线进行缩放变换，得到所述材料试样对应的应力应变曲线；

根据所述材料试样对应的应力应变曲线，确定所述材料试样的本构模型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从已有材料数据库的应力应变曲线中确定材料试样的基准曲线，包括：

获取材料试样的压陷的预设值，所述预设值包括预设的应变值和所述预设的应力值，所述预设的应变值包括至少两个应变值，所述预设的应力值包括至少两个应力值，每个预设的应变值对应一个预设的应力值；

从已有材料数据库包括的每个应力应变曲线中，确定每个所述应力应变曲线中的至少两个所述预设的应变值对应的应力值，与所述至少两个预设的应力值之间的均方根误差，获得每个所述应力应变曲线对应的均方根误差；

将最小均方根误差对应的应力应变曲线作为材料试样的基准曲线。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设的应变值包括第一应变值、第二应变值和第三应变值，所述预设的应力值包括第一应力值、第二应力值和第三应力值，所述第一应变值与所述第一应力值相对应，所述第二应变值与所述第二应力值相对应，所述第三应变值与所述第三应力值相对应。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述基准曲线进行缩放变换，得到所述材料试样对应的应力应变曲线，包括：

将所述基准曲线中的所述第一应变值对应的应力值修改为所述第一应力值，得到调整后的基准曲线；

基于第一缩放系数，对所述调整后的基准曲线进行一次缩放，得到第一曲线；

确定所述第一曲线中的目标应变值，所述目标应变值用于指示所述第一曲线的变化趋势；

基于第二缩放系数，对所述第一曲线中处于所述目标应变值之前的曲线进行二次缩放，得到第二曲线；

基于第三缩放系数，对所述第二曲线中处于所述目标应变值之后的曲线进行三次缩放，得到所述材料试样对应的应力应变曲线。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于第一缩放系数，对所述调整后的基准曲线进行一次缩放之前，所述方法还包括：

获取所述调整后的基准曲线中的应变值对应的应力值；

根据所述应变值、所述应变值对应的应力值、所述第一应变值和所述第一应力值确定第一缩放系数。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于第二缩放系数，对所述第一曲线中处于所述目标应变值之前的曲线进行二次缩放之前，所述方法还包括：

获取所述第一曲线中的应变值对应的应力值；

根据所述第二应变值、所述第二应力值、所述第一曲线中的应变值和所述第一曲线中的应变值对应的应力值，确定第二缩放系数。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于第三缩放系数，对所述第二曲线中处于所述目标应变值之后的曲线进行三次缩放之前，所述方法还包括：

根据所述第一曲线中的应变值、所述第一曲线中的应变值对应的应力值、所述第三应变值、所述第三应力值、所述第二应变值和所述第二应力值，确定第三缩放系数。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述材料试样对应的应力应变曲线，确定所述材料试样的本构模型，包括：

将所述材料试样对应的应力应变曲线输入有限元软件中进行拟合，得到所述材料试样对应的本构模型的参数；

根据所述材料试样对应的本构模型的参数，构建所述材料试样的本构模型。

9.一种材料本构模型的确定装置，其特征在于，包括：

确定模块，用于从已有材料数据库的应力应变曲线中确定材料试样的基准曲线；

缩放模块，用于对所述基准曲线进行缩放变换，得到所述材料试样对应的应力应变曲线；

确定模块，还用于根据所述材料试样对应的应力应变曲线，确定所述材料试样的本构模型。