[发明专利]一种基于微压检测技术的磨损监测系统

说明书

本发明提供了一种基于微压检测技术的磨损监测系统，所述系统包括压力检测模块、动态调整模块、磨损监测模块、计算控制模块和显示模块，所述压力检测模块用于检测密封件底部产生的压力分布情况，所述动态调整模块用于调整密封件的位置使密封件在磨损后仍具有密封性，所述磨损监测模块用于监测密封件的磨损长度，所述计算控制模块用于处理密封件磨损的计算以及控制所述动态调整模块，所述显示模块用于显示密封件的磨损情况。该系统能够监测密封件的磨损分布和磨损长度，根据磨损分布能够掌握密封件的密封性能，根据磨损长度能够掌握密封件的替换时机，同时动态调整密封件延长了密封件的使用寿命。

技术领域

本发明涉及监测技术领域，尤其涉及一种基于微压检测技术的磨损监测系统。

背景技术

磨损监测一直是监测技术领域的关注重点，例如现在已经开发出了很多密封件监测系统，经过我们大量的检索与参考，发现现有的密封件监测系统有如公开号为KR101680021B1，KR101643900B1、CN106884830B和KR100464574B1所公开的系统，包括在叶片密封与动块的配合处设计的密封槽导向套中，其正面安装与缸筒接触的矩形密封带，其背面铺设光纤光栅传感器；由密封槽导向套与动块装配后的叶片作为摆动式液压缸结构的一部分；在动块和输出轴上开设斜槽，并在输出轴中钻孔，将光纤引出至输出轴后与第二光纤准直器连接；第一光纤准直器固定在支撑基座上，通过调节支撑基座使两个光纤准直器耦合，实现光纤光栅传感信号的无线传输。该监测方法是通过光纤光栅传感器对密封件实时监测，经光纤光栅解调仪和计算机处理后判断摆动式液压缸的密封状态。但该系统只能获得密封状态，而无法获取致使该密封状态的密封件的具体磨损情况，且在密封件出现磨损时没有补救措施，密封件的寿命不够长。

发明内容

本发明的目的在于，针对所存在的不足，提出了一种基于微压检测技术的磨损监测系统，

本发明采用如下技术方案：

一种基于微压检测技术的磨损监测系统，所述系统包括压力检测模块、动态调整模块、磨损监测模块、计算控制模块和显示模块，所述压力检测模块用于检测密封件底部产生的压力分布情况，所述动态调整模块用于调整密封件的位置使密封件在磨损后仍具有密封性，所述磨损监测模块用于监测密封件的磨损长度，所述计算控制模块用于处理密封件磨损的计算以及控制所述动态调整模块，所述显示模块用于显示密封件的磨损情况；

所述压力检测模块包括抵压片，所述抵压片上设有均匀分布的测压点，所述测压点与密封件底部接触，密封件顶部与所述测压点对应的部分的相对磨损值为：

；

其中，k为压磨转换系数，n为测压点的个数，为第i个测压点测得的压力值，为所有压力值中的最大值；

所述动态调整模块包括滑道、弹簧和松紧组件，所述滑道安装于所述抵压片两侧，所述抵压片能够在所述滑道内滑动，所述弹簧一端与抵压片连接，另一端固定，所述松紧组件安装于所述抵压片与所述滑道的连接处用于固定所述抵压片在滑道上的位置，当密封件磨损时，调松所述松紧组件，所述抵压片和密封件在弹簧弹力作用下向外侧移动，弥补密封件的磨损部分后在调紧所述松紧组件使抵压片保持固定位置，所述松紧组件的调节由所述计算控制模块控制；

所述磨损监测模块包括安装于抵压片下方的导电丝、安装于滑道内的电阻片和电源，所述导电丝、电阻片和电源构成一闭合电路，所述导电丝在密封件未磨损时与电阻片未接触使得闭合电路断开，所述电阻片的接入电阻会随所述抵压片的移动而变化，通过测量闭合电路中的电流值来计算密封件的磨损长度：

；

其中，U为电源电压值，L为电阻片的长度，为整个电阻片的电阻值，I为测得的电流；

进一步的，所述抵压片为凹形使得密封件对测压点产生的压力垂直于测压点表面，所述抵压片凹壁之间的距离略大于密封件的厚度使得所述抵压片与密封件之间不产生摩擦力；