[发明专利]微控制器的存储器片上自检测系统及方法无效
申请号: | 202110938081.X | 申请日: | 2021-08-16 |
公开(公告)号: | CN113628666A | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 王成;陈志军;万郁葱 | 申请(专利权)人: | 苏州旗芯微半导体有限公司 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12;G11C29/42 |
代理公司: | 南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32297 | 代理人: | 陆明耀 |
地址: | 215000 江苏省苏州市虎丘区高*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制器 存储器 检测 系统 方法 | ||
本发明提供一种微控制器的存储器片上自检测系统及方法,所述系统包括:存储器后台故障侦测模块,所述存储器后台故障侦测模块通过系统总线与微控制器的存储器相连,所述系统总线中包括私有总线,所述存储器后台故障侦测模块通过所述私有总线在系统空闲期间定时读取所述微控制器的存储器数据并做错误检查和纠正处理。从而降低一些不常被系统访问到的数据存储器地址因发生单点故障引发多点故障而导致失效的概率。而且本发明的结构简单,仅需要少量硬件电路,不需要软件代码参与就可以达到延长微控制器使用寿命的目的。
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域,尤其涉及微控制器的存储器片上自检测系统及方法。
背景技术
目前在汽车微控制器中,对于一些不常被访问的数据存储器特别是数据FLASH(非易失性存储器),会随着芯片的老化而发生单点故障,而由于这些存储器不常被访问,所以不能被ECC(错误检查和纠正)电路侦测到。如果不能被及时发现并纠错,就会容易由单点故障引发多点故障从而导致芯片的失效,降低芯片的使用寿命。
发明内容
鉴于目前现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种及时侦测故障的微控制器的存储器片上自检测系统及方法。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
一种微控制器的存储器片上自检测系统,所述系统包括:存储器后台故障侦测模块,所述存储器后台故障侦测模块通过系统总线与微控制器的存储器相连,所述系统总线中包括私有总线,所述存储器后台故障侦测模块通过所述私有总线在系统空闲期间定时读取所述微控制器的存储器数据并做错误检查和纠正处理。
进一步,所述私有总线为主机总线。
进一步,所述系统总线为AHB总线互联。
进一步,所述微控制器的存储器包括FLASH、RAM。
进一步, 所述存储器后台故障侦测模块包括:
检测地址生成单元:由系统设置,用于产生并发送待侦测存储器地址、数据类型、数据大小信息;
AHB发送、接收单元:与所述检测地址生成单元相连,用于接收所述检测地址生成单元发送的待侦测存储器地址、数据类型、数据大小信息,生成AHB总线读命令,发送给系统总线,并接收从待侦测存储器读取的数据,也用于发送故障地址擦除、再编程命令,对所述待侦测存储器故障地址写入数据;
数据检测单元:与所述AHB发送、接收单元相连,接收所述AHB发送、接收单元读取的数据,据此产生理论错误验证码并与读取的实际错误验证码比较,产生比较结果,如果有单点故障则进行纠正处理;
FIFO寄存器单元:与所述数据检测单元相连,如果有单点故障则将纠正处理后的正确数据保存于所述FIFO寄存器内;
故障地址擦除及再编程单元:与所述数据检测单元、FIFO寄存器单元、AHB发送、接收单元均相连,对发生单点故障的地址,从所述FIFO寄存器单元获取正确的数据,产生故障地址擦除、再编程命令,发送给所述AHB发送、接收单元。
一种微控制器的存储器片上自检测方法,所述方法采用如前所述的微控制器的存储器片上自检测系统,其中,所述存储器后台故障侦测模块通过所述私有总线在系统空闲期间定时读取所述微控制器的存储器数据并做错误检查和纠正处理。
进一步,所述存储器后台故障侦测模块包括:检测地址生成单元;AHB发送、接收单元,与所述检测地址生成单元相连;数据检测单元:与所述AHB发送、接收单元相连;FIFO寄存器单元:与所述数据检测单元相连;故障地址擦除及再编程单元,与所述数据检测单元、FIFO寄存器单元、AHB发送、接收单元均相连;所述方法包括:
由系统设置,所述检测地址生成单元产生并发送待侦测存储器地址、数据类型、数据大小信息;
所述AHB发送、接收单元接收所述检测地址生成单元发送的待侦测存储器地址、数据类型、数据大小信息,生成AHB总线读命令,发送给系统总线,并接收从待侦测存储器读取的数据;
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