[发明专利]一种物料清单的异常检测方法及其系统

权利要求书

1.一种物料清单的异常检测方法，其特征在于，包括：

获取物料清单数据；

根据所述物料清单数据获取所述物料清单中的目标检测项的目标检测项数据；

当所述目标检测项数据与预设检测规则冲突时，生成异常信息，所述异常信息用于表示所述目标检测项数据异常。

2.根据权利要求1所述的异常检测方法，其特征在于，所述目标检测项数据包括：位号检测项数据，所述预设检测规则包括：一个位号对应一个电子元件；

其中，根据所述物料清单数据获取所述物料清单中的目标检测项的目标检测项数据包括：

在所述物料清单数据查找到位号列头数据；以及

根据所述位号列头数据，在所述物料清单数据中提取每种电子元件的位号检测项数据，所述位号检测项数据包括至少一个位号；

当所述目标检测项数据与预设检测规则冲突时，生成异常信息包括：

当至少两种所述电子元件的位号检测项数据中有至少一个位号相同时，生成第一异常信息。

3.根据权利要求1所述的异常检测方法，其特征在于，所述预设检测规则包括：同一种电子元件的位号数量和电子元件的数量相同；

其中，根据所述物料清单数据获取所述物料清单中的目标检测项的目标检测项数据包括：

在所述物料清单数据查找到第一种电子元件的元件数据；

从所述元件数据中查找到所述第一种电子元件的需求数量以及所述第一种电子元件的位号数据；

根据所述位号数据获取所述第一种电子元件的位号数量，其中所述位号检测项数据包括：所述第一种电子元件的需求数量以及位号数量；

当所述目标检测项数据与预设检测规则冲突时，生成异常信息包括：

当所述第一种电子元件的位号数量与所述第一种电子元件的需求数量之差的绝对值大于零时，生成第二异常信息。

4.根据权利要求1所述的异常检测方法，其特征在于，所述目标检测项数据包括：型号检测项数据，所述预设检测规则包括：一个型号对应一种电子元件；

其中，根据所述物料清单数据获取所述物料清单中的目标检测项的目标检测项数据包括：

在所述物料清单数据查找到型号列头数据；以及

根据所述型号列头数据，在所述物料清单数据中提取每种电子元件的型号检测项数据；

根据所述型号检测项数据获取所述型号检测项数据的长度；

所述长度大于四个预设长度；

当所述目标检测项数据与预设检测规则冲突时，生成异常信息包括：

当所述物料清单中至少两种电子元件的型号检测项数据相同时，生成第三异常信息。

5.根据权利要求4所述的异常检测方法，其特征在于，当所述目标检测项数据与所述目标检测项的预设检测规则冲突时，生成异常信息还包括：

当所述物料清单中一种电子元件包括至少两种型号检测项数据不同时，生成第四异常信息。

6.根据权利要求1所述的异常检测方法，其特征在于，所述目标检测项数据包括：安装检测项数据，所述预设检测规则包括：同一种型号的电子元件对应一种安装检测项数据；

其中，根据所述物料清单数据获取所述物料清单中的目标检测项的目标检测项数据包括：

在所述物料清单数据查找到安装列头数据；以及

根据所述安装列头数据，在所述物料清单数据中提取每种电子元件的安装检测项数据；

当所述目标检测项数据与预设检测规则冲突时，生成异常信息包括：

当所述物料清单中所述同一种型号的电子元件中包括至少两种安装检测项数据不同时，则生成第五异常信息。