[发明专利]一种β-Ga2 在审
申请号: | 202110939569.4 | 申请日: | 2021-08-16 |
公开(公告)号: | CN113871303A | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
发明(设计)人: | 张雅超;张涛;冯倩;张进成;马佩军;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/365 | 分类号: | H01L21/365;H01L29/24 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 刘长春 |
地址: | 710000 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ga base sub | ||
1.一种β-Ga2O3薄膜的制备方法,其特征在于,包括:
选取具有一定偏角范围的偏角衬底;
对所述偏角衬底进行退火处理;
在所述偏角衬底上外延生长第一β-Ga2O3层;
采用脉冲式生长法在所述第一β-Ga2O3层上外延生长第二β-Ga2O3层,以得到β-Ga2O3薄膜。
2.根据权利要求1所述的β-Ga2O3薄膜的制备方法,其特征在于,所述偏角衬底的材料为Ga2O3或者蓝宝石。
3.根据权利要求1所述的β-Ga2O3薄膜的制备方法,其特征在于,所述偏角衬底的偏角角度范围为1.5-6°。
4.根据权利要求1所述的β-Ga2O3薄膜的制备方法,其特征在于,对所述偏角衬底进行退火处理包括:
将所述偏角衬底放入低压MOCVD反应室中,设置氧气流量为1000-1500sccm,温度为900-950℃,反应室压力为35-45Torr;
将所述偏角衬底在上述氧气氛围下热退火20-30min。
5.根据权利要求1所述的β-Ga2O3薄膜的制备方法,其特征在于,在所述偏角衬底上外延生长第一β-Ga2O3层包括:
在对β-Ga2O3衬底进行退火处理后,将反应室温度降低为700-850℃,并保持反应室内压力为35-45Torr;
同时打开Ga源和O2气路,并调整Ga源流量为35-40sccm,O2流量为1800-2100sccm;
在上述工艺条件下,在所述偏角衬底上外延生长β-Ga2O3薄膜,以形成第一β-Ga2O3层;其中,生长时间为50-60min。
6.根据权利要求1所述的β-Ga2O3薄膜的制备方法,其特征在于,所述第一β-Ga2O3层的厚度为500-600nm。
7.根据权利要求1所述的β-Ga2O3薄膜的制备方法,其特征在于,采用脉冲式生长法在所述第一β-Ga2O3层上外延生长第二β-Ga2O3层,包括:
保持其他生长参数不变,切换薄膜生长方式为脉冲法,并调整Ga源和O2的脉冲时间比为1:1-1:3;
在上述条件下,生长30-50个循环周期,以在所述第一β-Ga2O3层上形成第二β-Ga2O3层。
8.根据权利要求1所述的β-Ga2O3薄膜的制备方法,其特征在于,所述Ga源的脉冲时间为0.1min,所述O2的脉冲时间为0.2或0.3min。
9.根据权利要求8所述的β-Ga2O3薄膜的制备方法,其特征在于,所述第二β-Ga2O3层的厚度为20-30nm。
10.一种β-Ga2O3薄膜,其特征在于,自下而上依次包括:偏角衬底、第一β-Ga2O3层以及第二β-Ga2O3层,其中,所述第二β-Ga2O3层由脉冲式生长法制备而成,所述β-Ga2O3薄膜由权利要求1-9任一项所述的方法制备得到。
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