[发明专利]基于超材料表面的全介质太赫兹传感器有效

专利信息
申请号: 202110940220.2 申请日: 2021-08-16
公开(公告)号: CN113624349B 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 方明;康美军;冯健;徐珂;肖志成;程荣生;刘星晨;黄志祥 申请(专利权)人: 安徽大学
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20
代理公司: 江苏长德知识产权代理有限公司 32478 代理人: 冯娟
地址: 230601 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 基于 材料 表面 介质 赫兹 传感器
【权利要求书】:

1.基于超材料表面的全介质太赫兹传感器,其特征在于,该传感器包括敏感元件以及与其相连接的热敏电路,所述敏感元件由掺杂导电材料的圆柱半导体构成,用以改变圆柱半导体的电导率,进而吸收太赫兹波段的电磁波,该传感器的尺寸为微米,所述掺杂的导电材料具体为硼,所述圆柱半导体的半径为95-110um,高度在85-95um;

其中,所述掺杂导电材料的圆柱半导体的制备工艺,包括以下步骤:1)镀膜前预处理:选用氮化硅圆柱体作为基体并进行镀膜前预处理;2)溅射:以氩气作为溅射气体,在对基体施加偏压的条件下,对导电材料硼靶进行磁控共溅射,在基体上沉积掺杂硼的氮化硅薄膜;3)退火:在氮气气体下,对沉积有掺杂硼的基体进行光热退火处理,保温1-2h;4)冷却:缓慢冷却后获得稳定掺杂硼的氮化硅薄膜。

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