[发明专利]一种粒子尺寸的测量方法

权利要求书

1.一种粒子尺寸的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S10：打开马尔文粒度仪上的全部光敏环，进行粒子尺寸测量，得到初始粒子尺寸分布曲线；

步骤S20：判断初始粒子尺寸分布曲线是否连续，若初始粒子尺寸分布曲线连续，则得到实际粒子尺寸分布曲线；若初始粒子尺寸分布曲线不连续，进行第1次降噪处理，继续步骤S30；

步骤S30：进行第i次降噪处理，其中，i为整数且i≧1，关闭部分光敏环，得到第i次粒子尺寸分布曲线，判断第i次粒子尺寸分布曲线是否连续；若第i次粒子尺寸分布曲线连续，则得到实际粒子尺寸分布曲线；若第i次粒子尺寸分布曲线不连续，则令i=i+1，重复步骤S30；

其中，步骤S30中，在得到第i次粒子尺寸分布曲线后，继续步骤S31：根据第i次粒子尺寸分布曲线计算得到第i次罗辛-拉姆勒分布曲线，根据第i次粒子尺寸分布曲线和第i次罗辛-拉姆勒分布曲线计算得到第i次平均相对误差MAD_i；判断第i次平均相对误差MAD_i是否小于预设阈值；若第i次平均相对误差MAD_i小于预设阈值，则第i次粒子尺寸分布曲线为实际粒子尺寸分布曲线；若第i次平均相对误差MAD_i大于等于预设阈值，则令i=i+1，重复步骤S31。

2.如权利要求1所述的一种粒子尺寸的测量方法，其特征在于，步骤S31中，所述第i次罗辛-拉姆勒分布曲线的计算公式为 ，其中，D_i为第i次粒子尺寸分布的粒子直径，V_ic^′为第i次罗辛-拉姆勒分布中直径小于粒子直径D_i时粒子的累计体积百分率，D_i0为第i次粒子尺寸分布中累计体积百分率为63.21%时的粒子直径，k_i为第i次粒子尺寸分布的分布参数。

3.如权利要求2所述的一种粒子尺寸的测量方法，其特征在于，所述第i次粒子尺寸分布的分布参数，其中，V_ic为第i次粒子尺寸分布中直径小于粒子直径D_i时粒子的累计体积百分率。