[发明专利]一种相位解缠绕方法、装置及可读存储介质

权利要求书

1.一种相位解缠绕方法，特征在于，包括以下步骤：

根据图像的缠绕相位图计算得到残差点分布图；

根据图像的缠绕相位图计算得到相位质量图；

用枝切线将残差点分布图中的残差点连接起来，并将残差点的质量降低N倍；

将位于枝切线外的相位点设为高质量点；

对高质量点进行解缠绕，其中，利用残差点的质量降低N倍后的相位质量图去引导相位点的解缠绕；

利用局部多项式曲面拟合得到残差点的真实相位；

根据真实相位对残差点进行解缠绕；

所述根据图像的缠绕相位图计算得到相位质量图的具体过程包括：

相位点(x,y)的质量值为：Q_x,y为相位点(x,y)的质量值，k为缠绕相位图的k×k的矩阵的k值，(x,y)为相位点在k×k的矩阵的坐标值，其中为相位点(x,y)的修正相位，ψ_x,y为相位点(x,y)的缠绕相位；

所述对高质量点进行解缠绕的步骤包括：

以相邻的两个高质量点为一对将高质量点分为若干对点，并计算出每一对点的质量值；

将若干对点按照质量值进行排序；

将质量值最高的一对点作为第一对点，对第一对点进行解缠绕，并将解缠绕后的第一对点加入第一组中；

对第N对点进行解缠绕之前，先判断第N对点中的高质量点是否已经被解缠绕过，N大于或等于2，

若第N对点中的高质量点都没被解缠绕过，则将解缠绕后的第N对点加入新的第n组中，

若第N对点中有一个高质量点被解缠绕过，则将解缠绕后的第N对点加入已被解缠绕过的高质量点所在的组中，

若第N对点的两个高质量点都被解缠绕过，且第N对点的两个高质量点p和q分别属于第p组和第q组的高质量点，如果第p组和第q组的高质量点数量相同，则将第p组和第q组合并形成新的第i组，如果第p组和第q组的高质量点数量不同，则将高质量点数量较少的第p组中每个高质量点的相位都加上2kπ，然后将第p组和第q组合并形成新的第i组，

重复本步骤，直至所有的高质量点全部解缠绕。

2.如权利要求1所述的相位解缠绕方法，其特征在于，所述根据图像的缠绕相位图计算得到残差点分布图的步骤包括：

以缠绕相位图的四个相位点相连线形成一个方形，四个相位点的缠绕相位分别为ψ_m,n，ψ_m,n+1，ψ_m+1,n，ψ_m+1,n+1；

通过以下公式得到方形中的四个相位点中两两之间的缠绕相位差值，其中γ为整数常数系数，

Δ₁＝γ{ψ_m,n+1-ψ_m,n},

Δ₂＝γ{ψ_m+1,n+1-ψ_m,n+1},

Δ₃＝γ{ψ_m+1,n-ψ_m+1,n+1},

Δ₄＝γ{ψ_m,n-ψ_m+1,n}；

求得四个相位点中两两之间的缠绕相位差值的和为q，

如果q值为0，则相位点ψ_m,n不是残差点；如果q值非0，则相位点ψ_m,n为残差点。