[发明专利]一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法、计算机设备与装置

说明书

本申请涉及图像处理技术领域，尤其是涉及一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法、计算机设备与装置，包括：基于面板的参数信息生成圆环阵列图并对圆环阵列图进行点亮；获取面板屏幕坐标系下的圆心坐标以及相机对点亮后的圆环阵列图采样的图像信息；对图像信息进行预处理后对预处理的图像进行初定位，获取相机坐标系下的圆环轮廓，然后利用最小二乘法进行亚像素定位获取相机坐标系下的圆心坐标；基于面板屏幕坐标系和相机坐标系在同一圆环下的圆心坐标，获取透视变化系数M；基于M获取所有像素点在相机坐标系下的圆心坐标，从而达到对所有像素点进行亚像素定位的目的；本申请在对面板进行亚像素级像素定位时具有耗时其短、鲁棒性强的效果。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其是涉及一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法、计算机设备与装置。

背景技术

随着社会的发展，面板需求量在手机、教育、车载等不同领域急剧增加。AMOLED作为一种电流型发光器件已越来越多地被应用于高性能显示中。由于它自发光的特性，与LCD相比，AMOLED具有高对比度、超轻薄、可弯曲等诸多优点，但是，亮度均匀性和残像仍然是它目前面临的两个主要难题，要解决这两个问题，除了工艺的改善，就不得不提到补偿技术。解决良率问题成为各个面板厂重中之重，Demura设备能够大幅度优化AMOLED面板的Mura不良，提高面板厂出货良率。

Demura设备已成为各个面板厂核心技术设备，该设备主要分为光学采样、图像算法处理、机构控制等模块，其中图像算法处理是该设备的核心与技术难点，具体包括亚像素级像素定位、像素级亮度提取、像素级亮度补偿等算法模块。其中对亚像素级像素定位的技术一直存在改进的空间，希望其具有耗时其短、鲁棒性强、适配性好等特点，然后能使相应的Demura 产品更加优化。

针对上述相关技术，发明人认为目前的亚像素级像素定位技术存在耗时长、鲁棒性较差等问题。

发明内容

为了使亚像素级像素定位具有耗时其短、鲁棒性强的特点，本申请提供一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法、计算机设备与装置。

第一方面，本申请提供的一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法，采用如下的技术方案：

一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法，包括：

基于面板的参数信息生成圆环阵列图，并对圆环阵列图进行点亮处理；

获取相机对面板采样的参数信息以及相机对点亮后的圆环阵列图采样的图像信息，参数信息包括面板屏幕坐标系下的圆环半径、圆环圆心坐标及圆环个数；

基于相机对点亮后的圆环阵列图采样的图像信息，对图像信息进行预处理；

对预处理的图像进行初定位，获取相机坐标系下的圆环轮廓；

基于相机坐标系下的圆环轮廓对预处理的图像进行亚像素定位，获取相机坐标系下的圆环圆心坐标；

基于面板屏幕坐标系和相机坐标系在同一圆环下的圆心坐标，获取二者之间的透视变化系数M；

基于透视变化系数M，获取面板屏幕坐标系中所有像素点在相机坐标系中的亚像素定位结果。

通过采用上述技术方案，对面板进行亚像素定位时，根据面板自身的参数设计出对应的圆环阵列图，该圆环均匀分布于AMOLED 产品的同心圆环，相对于Demura领域现有方案使用点阵图具有较强的鲁棒性；然后利用PG对圆环阵列图进行点亮，方便相机进行拍照采样，然后利用相机对面板以及圆环阵列图进行采样，对面板采样时，相机对面板上的图像进行拍照采样，采样的信息包括圆环阵列图中的部分圆环，相机采样时还获取在采样图像下的面板屏幕坐标系下的圆环直径、圆环圆心坐标和圆环个数，相机对圆环阵列图的采样后的图像信息，分别进行预处理、初定位和亚像素定位，形成有效的圆环信息，然后计算相机坐标系和面板屏幕坐标系之间的换算关系，即为计算相机坐标系下的圆心坐标和面板屏幕坐标系下的圆心坐标之间的换算关系，然后获取透视变化系数M；基于透视变化系数M，获取面板的所有像素点在相机坐标系下的亚像素定位结果，能减少耗时，也能提高鲁棒性，同时，这种方式在异型面板（如刘海屏、挖空屏）上适配性较好。