[发明专利]一种绝缘子放电故障检测方法

权利要求书

1.一种绝缘子放电故障检测方法，其特征在于，所述绝缘子放电故障检测方法包括以下步骤：

步骤(1)：采集所述绝缘子漏电电流信号；

步骤(2)：对所述漏电电流信号进行小波分解；

步骤(3)：对一个采样周期内的所述漏电电流信号取平方；

步骤(4)：将所述漏电电流信号平方值按照由小到大顺序排列，得到信号序列A(t)；

步骤(5)：提取合适的阈值；

步骤(6)：根据所述阈值对小波系数进行软阈值降噪处理，得到新的小波系数；

步骤(7)：对所述漏电电流信号进行小波重构，得到滤波后的漏电电流信号；

步骤(8)：判断所述漏电电流信号是否大于放电电流参考值，若是，进入步骤(9)；若不是，返回步骤(1)；

步骤(9)：计算所述漏电电流信号基波峰值平均值；

步骤(10)：判断所述基波峰值平均值是否大于基波峰值平均值参考值，若是，进入步骤(11)，若不是，返回步骤(1)；

步骤(11)：计算所述漏电电流信号峰值标准差；

步骤(12)：判断所述峰值标准差是否大于峰值标准差参考值，若是，进入步骤(13)，若不是，返回步骤(1)；

步骤(13)：计算所述漏电电流信号零休率；

步骤(14)：判断所述零休率是否大于零休率参考值，若是，进入步骤(15)，若不是，返回步骤(1)；

步骤(15)：计算所述漏电电流信号波形形状系数；

步骤(16)：判断所述波形形状系数是否大于波形形状系数参考值，若是，进入步骤(17)，若不是，返回步骤(1)；

步骤(17)：将所述漏电电流信号进行傅里叶变换，提取3次谐波分量和5次谐波分量；

步骤(18)：计算所述3次谐波分量与所述基波比值，计算所述5次谐波分量与所述基波比值；

步骤(19)：判断所述3次谐波分量与所述基波比值是否大于3次谐波分量占比参考值，若是，进入步骤(20)，若不是，返回步骤(1)；

步骤(20)：判断所述5次谐波分量与所述基波比值是否大于5次谐波分量占比参考值，若是，进入步骤(21)，若不是，返回步骤(1)；

步骤(21)：将所述漏电电流信号采用db4小波作为母小波进行8级小波分解，得到8个子频带分解系数(d₁,d₂,d₃,d₄,d₅,d₆,d₇,d₈)；

步骤(22)：提取特征量

步骤(23)：判断D₁、D₂、D₃、D₄、D₅、D₆、D₈是否大于各自对应的参考值，并统计大于参考值的数量n；

步骤(24)：判断n是否大于5，若是，所述绝缘子为一级放电；若不是，进入步骤(25)；

步骤(25)：判断n是否大于3，若是，所述绝缘子为二级放电；若不是，所述绝缘子为三级放电。

2.根据权利要求1所述的一种绝缘子放电故障检测方法，其特征在于，所述阈值取值方法为：

所述阈值取所述信号序列A(t)第k个元素的平方根，k＝0,1,…,N-1；

计算所述阈值产生的风险值N为所述采样点数；

找出所述风险值最小值所对应的k值，则所述阈值为

3.根据权利要求2所述的一种绝缘子放电故障检测方法，其特征在于，根据所述阈值对小波系数进行软阈值降噪处理，得到新的小波系数a为所述小波系数。

4.根据权利要求3所述的一种绝缘子放电故障检测方法，其特征在于，所述零休率K₁＝n₁/N，n₁为基波峰值2％的采样点数。

5.根据权利要求4所述的一种绝缘子放电故障检测方法，其特征在于，所述波形形状系数K₂＝S/L²，S为所述漏电电流信号波形与横轴所围面积，L为波形周长。