[发明专利]一种OPGW光缆的驻波半波长测量方法、系统、设备及介质

权利要求书

1.一种OPGW光缆的驻波半波长测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

基于待测OPGW光缆的传感光纤中的分布式光栅阵列，获取每个光栅反射点的多个采样时间点的相位弧度；

基于所述每个光栅反射点的多个采样时间点的相位弧度，获取每个光栅反射点的相邻采样时间点的相位弧度差；

基于所述每个光栅反射点的相邻采样时间点的相位弧度差，获取满足预设要求的两个相位弧度差极小值点；

获取所述两个相位弧度差极小值点对应的两个光栅反射点的距离，完成驻波半波长测量；

其中，所述获取满足预设要求的两个相位弧度差极小值点的步骤具体包括：

获取相邻且接近的两个相位弧度差极小值点；其中，所述相邻指的是两个相位弧度差极小值点之间不存在相位弧度差极小值点，所述接近指的是两个相位弧度差极小值点的差值满足预设阈值要求。

2.根据权利要求1所述的一种OPGW光缆的驻波半波长测量方法，其特征在于，所述获取每个光栅反射点的多个采样时间点的相位弧度的过程中，相位弧度的表达式为：

式中，A为光栅反射点的相位弧度，i为第i个光栅反射点，k为第k个采样时间点，为低频噪声产生的信号。

3.根据权利要求2所述的一种OPGW光缆的驻波半波长测量方法，其特征在于，所述获取每个光栅反射点的相邻采样时间点的相位弧度差的过程中，相位弧度差的表达式为：

式中，为第i个光栅反射点从第k个采样时间点到第k+1个采样时间点的相位弧度差。

4.根据权利要求1所述的一种OPGW光缆的驻波半波长测量方法，其特征在于，所述获取每个光栅反射点的相邻采样时间点的相位弧度差的过程中，在获取每个光栅反射点的相邻采样时间点的相位弧度差之后，还包括：

将每个光栅反射点获取的相位弧度差分别进行放大，将放大的结果作为光栅反射点的相位弧度差。

5.根据权利要求4所述的一种OPGW光缆的驻波半波长测量方法，其特征在于，所述将每个光栅反射点获取的相位弧度差分别进行放大，将放大的结果作为光栅反射点的相位弧度差的步骤具体包括：

将每个光栅反射点的连续预设数量个相位弧度差累加，将累加结果作为光栅反射点的相位弧度差。

6.根据权利要求5所述的一种OPGW光缆的驻波半波长测量方法，其特征在于，所述将累加结果作为相应光栅反射点的相位弧度差之后，还包括：

基于每个光栅反射点的累加结果分别进行取平均数处理，将取平均数处理结果作为光栅反射点最终的相位弧度差。

7.一种OPGW光缆的驻波半波长测量系统，其特征在于，包括：

相位弧度获取模块，用于基于待测OPGW光缆的传感光纤中的分布式光栅阵列，获取每个光栅反射点的多个采样时间点的相位弧度；

相位弧度差获取模块，用于基于所述每个光栅反射点的多个采样时间点的相位弧度，获取每个光栅反射点的相邻采样时间点的相位弧度差；

极小值点获取模块，用于基于所述每个光栅反射点的相邻采样时间点的相位弧度差，获取满足预设要求的两个相位弧度差极小值点；

驻波半波长获取模块，用于获取所述两个相位弧度差极小值点对应的两个光栅反射点的距离，完成驻波半波长测量；

其中，所述获取满足预设要求的两个相位弧度差极小值点的步骤具体包括：

获取相邻且接近的两个相位弧度差极小值点；其中，所述相邻指的是两个相位弧度差极小值点之间不存在相位弧度差极小值点，所述接近指的是两个相位弧度差极小值点的差值满足预设阈值要求。

8.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述OPGW光缆的驻波半波长测量方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述OPGW光缆的驻波半波长测量方法的步骤。