[发明专利]一种基于双重校正的泥页岩地层孔隙压力的计算方法有效

专利信息
申请号: 202110950661.0 申请日: 2021-08-18
公开(公告)号: CN113625364B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 熊健;刘峻杰;刘向君;万有维;余小龙;梁利喜;丁乙 申请(专利权)人: 西南石油大学
主分类号: G01V11/00 分类号: G01V11/00;G01V13/00;E21B47/00
代理公司: 西安智财全知识产权代理事务所(普通合伙) 61277 代理人: 张鹏
地址: 610500 四川省成都市新*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 双重 校正 页岩 地层 孔隙 压力 计算方法
【权利要求书】:

1.一种基于双重校正的泥页岩地层孔隙压力计算方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一:准备研究工区的实验岩心资料、地质资料、现场钻井用钻井液、测井资料、钻完井报告;

步骤二:钻取标准岩样60-80块,对岩样烘干后,获取岩样的密度、电阻率和声波时差;

步骤三:采用现场钻井用钻井液对步骤二的干燥岩样进行浸泡实验,获取浸泡后岩样的密度、电阻率和声波时差;

获得密度、电阻率和声波时差的改变量;以电阻率改变量为自变量,分别以密度改变量、声波时差改变量为因变量进行拟合回归,见式1和式2所示,

另外,电阻率改变量又能通过现场的双侧向电阻率测井资料获得,见式3所示,

Δ(Δt)1=f1(ΔR)=aΔR+b (1)

ΔDEN=f2(ΔR)=dln(ΔR)-e (2)

ΔR=Rd-Rs (3)

式中:Δ(Δt)1、ΔR、ΔDEN分别为岩样因为浸泡水化而导致的声波时差改变量、电阻率改变量、密度改变量;Rd为深侧向电阻率值;Rs为浅侧向电阻率值;a、b、d、e为待定系数;

步骤四:基于现场测井资料中的声波时差、密度、深侧向电阻率、浅侧向电阻率资料,获得经水化校正后的原状地层声波时差、密度值为:

Δt0=Δt-Δ(Δt)1 (4)

DEN0=DEN-ΔDEN (5)

式中:Δt为测井资料中的地层声波时差,us/m;Δt0为水化校正后的地层声波时差,us/m;DEN为测井资料中的地层密度,g/cm3;DEN0为水化校正后的地层密度,g/cm3

步骤五:实验测试干燥岩样进行有机碳含量,获得每个岩样的有机碳含量,从而得到不同含量有机碳岩样的声波时差与有机碳含量间的关系式,

Δt(TOC)=fln(ω(TOC))+p (6)

式中:Δt(TOC)为不同含量有机碳的岩样的声波时差,us/m;ω(TOC)为岩样的有机碳含量,%;f、p为待定系数;

对式6求取当岩样有机碳含量趋于0时极限,获取岩样声波时差的极限值Δtlim

步骤六:以岩样声波时差极限值作为基准值,获取岩样声波时差与该极限值的差值,定义该差值为岩样声波时差校正量,并获取该校正量与有机碳含量间的关系式,见式7;

Δ(Δt)2=Δt(TOC)-Δtlim=fln(ω(TOC))+p-Δtlim (7)

式中:Δ(Δt)2为基于有机碳含量的岩样声波时差校正量;

步骤七:基于水化校正后的地层声波时差,结合测井资料中的有机碳含量信息,对富含有机质地层声波时差进行有机质校正后,最终,得到经过水化校正和有机质校正后的地层声波时差为

Δt(水化+TOC)校正=Δt0-Δ(Δt)2 (8)

式中:Δt(水化+TOC)校正为经过双重校正后的真实声波时差,us/m;

步骤八:选择泥质含量大于85%、井径扩径率小于10%泥岩段地层,构建研究区块的基于双重校正后声波时差的压实趋势曲线,其方程如式9,

H=hln(Δt(水化+TOC)校正)+j (9)

式中:H为地层深度,m;h、j为待定系数;

步骤九:结合钻完井报告的中途测试或静压测试获取的地层压力实测资料,利用式10计算不同地层压力测试点下的压实校正系数c,

c=mHn (11)

式中:Pp为地层压力,MPa;σv为上覆岩层压力,MPa;ph为地层静水压力,MPa;Δtn为同一深度正常压实趋势线上的声波时差,us/m;c为压实校正系数;m、n为待定系数;H0为起始测井点深度,m;为未测井段深度H0点的密度,g/cm3;g为重力加速度,m/s2;DEN水化前为水化校正后的密度测井值,g/cm3

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