[发明专利]生成测试用例的方法、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种用于生成测试用例的方法，其中，所述测试用例用于在逻辑系统设计的仿真过程中测试所述逻辑系统设计的多个功能单元，所述方法包括：

获取用于生成测试用例的约束条件；

根据所述约束条件生成第一组测试用例，其中，所述第一组测试用例用于覆盖所述多个功能单元的一部分；

基于所述第一组测试用例测试所述逻辑系统设计；

确定所述测试的未覆盖功能单元和当前覆盖率；以及

响应于所述当前覆盖率不满足预设测试覆盖率条件，根据所述未覆盖功能单元生成第二组测试用例。

2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

基于所述第二组测试用例继续测试所述逻辑系统设计；以及

更新所述测试的未覆盖功能单元和当前覆盖率。

3.根据权利要求2所述的方法，进一步包括：

当当前覆盖率满足预设测试覆盖率条件时，完成对于所述逻辑系统设计的测试。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，根据所述未覆盖功能单元生成第二组测试用例进一步包括：

根据所述未覆盖功能单元更新所述约束条件；

根据所述更新的约束条件以生成所述第二组测试用例。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述约束条件生成第一组测试用例进一步包括：

根据所述约束条件生成测试用例；

从所述测试用例中筛选得到所述第一组测试用例。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其中，所述预设测试覆盖率条件为所述当前覆盖率高于给定阈值。

7.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其中，所述获取用于生成测试用例的约束条件的步骤包括：

获取用于生成测试用例的初始约束条件；

对所述初始约束条件进行解析，得到所述约束条件。

8.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

获取用于生成测试用例的多个约束条件；

基于所述多个约束条件生成满足所述预设测试覆盖率条件的多组测试用例；以及

基于所述多个约束条件、所述逻辑系统设计、以及所述多组测试用例训练神经网络模型。

9.一种电子设备，包括：

存储器，用于存储一组指令；以及

至少一个处理器，配置为执行该组指令以进行如权利要求1至8任意一项所述的方法。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储电子装置的一组指令，该组指令用于使所述电子装置执行权利要求1至8任意一项所述的方法。