[发明专利]一种砷化铟纳米结构及基于砷化铟纳米结构的红外探测器有效

专利信息
申请号: 202110952178.6 申请日: 2021-08-19
公开(公告)号: CN113809187B 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 李茜;李子园;袁小明;何军;左鑫荣;黄志伟 申请(专利权)人: 长沙理工大学
主分类号: H01L31/0236 分类号: H01L31/0236;H01L31/0304;B82Y20/00
代理公司: 长沙明新专利代理事务所(普通合伙) 43222 代理人: 叶舟
地址: 410114 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 砷化铟 纳米 结构 基于 红外探测器
【权利要求书】:

1.一种砷化铟纳米结构,其特征在于,所述砷化铟纳米结构用于红外探测器以提高偏振及宽光谱的吸收率,所述砷化铟纳米结构包括:衬底和阵列设置在所述衬底上的纳米级砷化铟结构;所述砷化铟结构包括由三个片状结构砷化铟组成的三叶草结构;每个所述片状结构砷化铟的最优尺寸为:长度为1100nm,宽度为110nm,高度为5000nm,所述三叶草结构的砷化铟的填充率为0.086;阵列设置的多个砷化铟结构构成谐振腔。

2.根据权利要求1所述的砷化铟纳米结构,其特征在于,所述砷化铟结构包括由四个片状结构砷化铟组成的X网格结构。

3.根据权利要求1所述的砷化铟纳米结构,其特征在于,所述砷化铟结构包括由六个片状结构砷化铟组成的雪花结构。

4.根据权利要求3所述的砷化铟纳米结构,其特征在于,所述雪花结构中每个所述片状结构砷化铟的最优尺寸为:长度为800nm,厚度为110nm,高度为5000nm以及所述雪花结构的砷化铟的填充率为0.096。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的砷化铟纳米结构,其特征在于,所述砷化铟结构为对称性结构。

6.一种基于砷化铟纳米结构的红外探测器,其特征在于,所述红外探测器包括权利要求1-5任一项所述的砷化铟纳米结构。

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