[发明专利]一种砷化铟纳米结构及基于砷化铟纳米结构的红外探测器有效
申请号: | 202110952178.6 | 申请日: | 2021-08-19 |
公开(公告)号: | CN113809187B | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | 李茜;李子园;袁小明;何军;左鑫荣;黄志伟 | 申请(专利权)人: | 长沙理工大学 |
主分类号: | H01L31/0236 | 分类号: | H01L31/0236;H01L31/0304;B82Y20/00 |
代理公司: | 长沙明新专利代理事务所(普通合伙) 43222 | 代理人: | 叶舟 |
地址: | 410114 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 砷化铟 纳米 结构 基于 红外探测器 | ||
1.一种砷化铟纳米结构,其特征在于,所述砷化铟纳米结构用于红外探测器以提高偏振及宽光谱的吸收率,所述砷化铟纳米结构包括:衬底和阵列设置在所述衬底上的纳米级砷化铟结构;所述砷化铟结构包括由三个片状结构砷化铟组成的三叶草结构;每个所述片状结构砷化铟的最优尺寸为:长度为1100nm,宽度为110nm,高度为5000nm,所述三叶草结构的砷化铟的填充率为0.086;阵列设置的多个砷化铟结构构成谐振腔。
2.根据权利要求1所述的砷化铟纳米结构,其特征在于,所述砷化铟结构包括由四个片状结构砷化铟组成的X网格结构。
3.根据权利要求1所述的砷化铟纳米结构,其特征在于,所述砷化铟结构包括由六个片状结构砷化铟组成的雪花结构。
4.根据权利要求3所述的砷化铟纳米结构,其特征在于,所述雪花结构中每个所述片状结构砷化铟的最优尺寸为:长度为800nm,厚度为110nm,高度为5000nm以及所述雪花结构的砷化铟的填充率为0.096。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的砷化铟纳米结构,其特征在于,所述砷化铟结构为对称性结构。
6.一种基于砷化铟纳米结构的红外探测器,其特征在于,所述红外探测器包括权利要求1-5任一项所述的砷化铟纳米结构。
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