[发明专利]基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法

权利要求书

1.一种基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取星载电子单机的加速试验剖面环境；

基于加速试验剖面环境，对星载电子单机做循环加速寿命试验；所述循环加速寿命试验出现至少一个产品失效或者到达试验截止时间，则停止试验；

获取星载电子单机试验样品在加速寿命试验过程中的性能参数随时间和应力变化的试验数据，并建立星载电子单机序进等效模型；

基于星载电子单机序进等效模型，评估产品寿命指标。

2.根据权利要求1所述的一种基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法，其特征在于，根据以下方法获取星载电子单机的加速试验剖面环境：

分析星载电子单机失效的潜在失效模式，并确定影响星载电子单机寿命的关键影响指标；

获取关键影响指标参数随环境变化的规律，以及星载电子单机在不同环境应力下的工作极限；

根据不同的工作极限，制定星载电子单机的加速试验剖面环境。

3.根据权利要求2所述的一种基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法，其特征在于，根据以下方法分析星载电子单机失效的潜在失效模式，并确定影响星载电子单机寿命的关键影响指标：

分析星载电子单机的设计参数，获取关键影响指标：

基于星载电子单机在轨应用的环境剖面和任务剖面，统计星载电子单机所面临的具体环境条件；

综合关键影响指标和星载电子单机所面临的具体环境条件，分析星载电子单机的潜在设计和质量薄弱环节，得到星载电子单机的潜在失效模式；

分析潜在失效模式的影响指标，确定影响星载电子单机寿命的关键影响指标。

4.根据权利要求3所述的一种基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法，其特征在于，根据以下方法获取关键影响指标参数随环境变化的规律，以及星载电子单机在不同环境应力下的工作极限：

对星载电子单机开展失效边界摸底试验；所述失效边界摸底试验包括：依次开展的低温摸底试验、高温摸底试验和快速温变摸底试验；

若任一项失效边界摸底试验中的样本失效，则选取新样本或对可修复样本修复，继续开展下一项试验，直至完成所有失效边界摸底试验；

基于每项试验，获取星载电子单机的相应的低温、高温、快速温变的工作极限，以及关键影响指标参数受上述环境影响的变化规律。

5.根据权利要求4所述的一种基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法，其特征在于，根据以下方法制定星载电子单机的加速试验剖面环境：

选取加速试验的高温温度；所述高温温度大于设定的鉴定级试验最高温度，且小于星载电子单机的元器件和材料的最高工作温度以及星载电子单机的高温工作极限；

设定温度步进台阶的变化速率，且所述变化速率小于星载电子单机的快速温变的工作极限；

通过温度步进递增的方式开展加速试验，直至出现至少一个产品失效或者到达试验截止时间；

对电应力在设定工作范围下做拉偏循环；

基于上述的高温步进应力和电应力拉偏循环方式开展加速寿命试验，制定高温步进+电应力循环的加速试验剖面环境。

6.根据权利要求1所述的一种基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法，其特征在于，根据以下方法判定产品失效：

通过分析关键影响指标，确定产品失效判据；

在试验过程中，对星载电子单机的各指标与产品失效判据做对比；

若出现至少一个指标与产品失效判据一致，则判定产品失效，反之，则继续试验。