[发明专利]可控硅检测电路及方法、集成芯片和照明驱动电路

权利要求书

1.一种可控硅检测电路，交流输入电压经过整流处理后传输给母线线路，其特征在于，包括：

电压采样电路，用于采集母线电压；

触发电路，接收所述母线电压和第一电压阈值，当所述母线电压上升到第一电压阈值时，产生第一触发信号；以及

检测电路，设置时间阈值和第二电压阈值，接收所述第一触发信号，当所述第一触发信号有效时，所述检测电路根据所述母线电压、所述时间阈值和所述第二电压阈值判断所述可控硅的接入情况。

2.如权利要求1所述的可控硅检测电路，其特征在于，所述时间阈值为所述交流输入电压经过整流后的半波电压从所述第一电压阈值上升到所述第二电压阈值的时间。

3.如权利要求1所述的可控硅检测电路，其特征在于，当判断所述可控硅存在接入的情况，则所述交流输入电压经过所述可控硅处理后传输给整流电路进行整流处理。

4.如权利要求1所述的可控硅检测电路，其特征在于，所述电压采样电路包括第一电阻和第二电阻，所述第一电阻与所述第二电阻连接，所述第一电阻和所述第二电阻之间的公共端与所述触发电路的一输入端连接。

5.如权利要求2所述的可控硅检测电路，其特征在于，所述检测电路包括：

检测时间电路，用于接收所述第一触发信号后在第一窗口时间内持续输出第二使能信号，所述第一窗口时间小于所述时间阈值；以及

第二比较器，用于接收所述第二使能信号，并比较所述母线电压与所述第二电压阈值的大小后输出第三信号，根据所述第三信号判断所述可控硅的接入情况。

6.如权利要求5所述的可控硅检测电路，其特征在于，所述触发电路的第一输入端与所述电压采样电路连接，第二输入端输入所述第一电压阈值，输出端与所述检测时间电路的输入端相连，当检测到所述母线电压值大于所述第一电压阈值时，输出所述第一触发信号；

所述第二比较器的第一输入端与所述电压采样电路连接，第二输入端输入所述第二电压阈值，以及所述第二比较器的控制端与所述检测时间电路的输出端相连，所述第二比较器接收所述第二使能信号，当在所述第一窗口时间内检测到所述母线电压值大于所述第二电压阈值时，输出所述第三信号。

7.如权利要求2所述的可控硅检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括：

第三比较器，用于比较所述母线电压和所述第二电压阈值的大小并输出第一比较信号；以及

计时电路，用于接收所述第一触发信号与所述第一比较信号并计算第二窗口时间，比较所述第二窗口时间与所述时间阈值的大小并输出第四信号，根据所述第四信号判断所述可控硅的接入情况；

其中，所述第二窗口时间为所述第一触发信号到所述第一比较信号变为有效状态的时间。

8.如权利要求7所述的可控硅检测电路，其特征在于，所述触发电路的第一输入端与所述电压采样电路连接，第二输入端输入第一电压阈值，输出端与所述计时电路的第一输入端相连，当检测到所述母线电压值大于所述第一电压阈值时，输出所述第一触发信号；

所述第三比较器的第一输入端与所述电压采样电路连接，第二输入端输入所述第二电压阈值，输出端与所述计时电路的第二输入端相连，当检测到所述母线电压值大于所述第二电压阈值时，输出所述第一比较信号；

当所述第二窗口时间小于所述时间阈值时，输出所述第四信号。