[发明专利]GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202110959805.9 申请日: 2021-08-20
公开(公告)号: CN113922208A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 肖和平;朱迪;郭磊 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01S5/183 分类号: H01S5/183;H01S5/343
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 吕耀萍
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: gan 紫光 垂直 发射 激光器 芯片 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片,其特征在于,所述GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片包括外延片、n电极与p电极,

所述外延片包括n-GaN衬底及依次层叠在n-GaN衬底上的第一分布式布拉格反射镜、量子阱有源层、第二分布式布拉格反射镜、p-GaN欧姆接触层,

所述第一分布式布拉格反射镜包括非掺杂的AlN/GaN超晶格结构,所述第二分布式布拉格反射镜包括AlGaN/GaN超晶格结构,

所述n电极与所述p电极则分别位于所述n-GaN衬底与所述p-GaN欧姆接触层上。

2.根据权利要求1所述的GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片,其特征在于,所述第一分布式布拉格反射镜的对数为20~30,所述第二分布式布拉格反射镜的对数为5~20。

3.根据权利要求2所述的GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片,其特征在于,所述第一分布式布拉格反射镜的厚度为200~400nm,所述第二分布式布拉格反射镜的厚度为50~250nm。

4.根据权利要求1~3任一项所述的GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片,其特征在于,所述外延片还包括层叠在所述p-GaN欧姆接触层上的SiOx载流子阻挡层,所述SiOx载流子阻挡层具有用于连通至所述p-GaN欧姆接触层的导流通孔。

5.根据权利要求4所述的GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片,其特征在于,所述外延片还包括层叠在所述SiOx载流子阻挡层上的WOx电流扩展层,所述WOx电流扩展层位于所述p电极与所述SiOx载流子阻挡层之间。

6.根据权利要求5所述的GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片,其特征在于,所述p电极的表面具有延伸至所述WOx电流扩展层的开孔,所述外延片还包括位于所述开孔内的反射结构。

7.根据权利要求6所述的GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片,其特征在于,所述导流通孔的轴线与所述开孔的轴线重合,所述开孔的直径大于所述导流通孔的直径。

8.根据权利要求6所述的GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片,其特征在于,所述反射结构包括TaOx/MgF2分布式布拉格反射镜。

9.根据权利要求8所述的GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片,其特征在于,所述TaOx/MgF2分布式布拉格反射镜的对数为15~30。

10.一种GaN基蓝紫光垂直腔面发射激光器芯片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:

提供一n-GaN衬底;

在所述n-GaN衬底上依次生长第一分布式布拉格反射镜、量子阱有源层、第二分布式布拉格反射镜、p-GaN欧姆接触层,所述第一分布式布拉格反射镜包括非掺杂的AlN/GaN超晶格结构,所述第二分布式布拉格反射镜包括AlGaN/GaN超晶格结构;

在所述n-GaN衬底远离所述p-GaN欧姆接触层的一面制备n电极;

在所述p-GaN欧姆接触层远离所述n-GaN衬底的一面制备p电极。

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