[发明专利]一种用于材料空间分布特性测量的脉冲X射线二极管

权利要求书

1.一种用于材料空间分布特性测量的脉冲X射线二极管，其特征在于，包括充气密封法兰（1）、二极管管筒（2）、绝缘筒（6）、二极管管壳（8）、阳极组件、阴极组件和真空盖板（9）；

所述绝缘筒（6）为外壁呈一端大一端小的凸形结构，所述二极管管筒（2）设置在凸形结构的大端外侧，所述二极管管壳（8）设置在凸形结构的小端外侧；

所述阴极组件通过阴极盘压接法兰（10）安装在二极管管壳（8）远离凸形结构大端的端部，所述真空盖板（9）设置在二极管管壳（8）远离凸形结构大端的端部，所述二极管管壳（8）、真空盖板（9）和绝缘筒（6）之间形成真空靶室，所述真空盖板（9）上设置有与阳极组件配合的真空薄膜（15）；

所述充气密封法兰（1）设置在二极管管筒（2）远离凸形结构小端的端部，所述绝缘筒（6）沿着轴向设置有中心通孔，所述中心通孔与充气密封法兰（1）连通，且所述中心通孔未贯穿凸形结构的小端，所述中心通孔内靠近凸形结构小端的一侧设置有高压连接件（19），所述中心通孔的另一侧形成气体绝缘腔室；所述阳极组件安装在凸形结构小端的端部，且与高压连接件（19）连接；

所述绝缘筒（6）的外壁设置有环形凸起；所述充气密封法兰（1）、绝缘筒（6）和外接高压输入电极构成密封环境；所述高压连接件（19）通过高压电缆连接高压脉冲源；所述高压连接件（19）与真空薄膜（15）相配合使得辐射输出能量低、强度高。

2.根据权利要求1所述的一种用于材料空间分布特性测量的脉冲X射线二极管，其特征在于，所述二极管管筒（2）上在高压连接件（19）的外侧设置有电压测试探头（5）和电流测试探头（20）。

3.根据权利要求2所述的一种用于材料空间分布特性测量的脉冲X射线二极管，其特征在于，所述电压测试探头（5）包括第一N型头（21）、金属盖板（22）、绝缘垫（23）和金属电极（24）；

所述第一N型头（21）设置在金属盖板（22）内，所述金属电极（24）嵌入绝缘垫（23）中，且所述金属电极（24）和绝缘垫（23）的端部均为与绝缘筒（6）相配合的弧形结构，所述金属盖板（22）设置在绝缘垫（23）的外侧，所述金属盖板（22）安装在二极管管筒（2）上预留的第一法兰上，安装后所述金属盖板（22）和绝缘垫（23）的端部与绝缘筒（6）的外壁接触。

4.根据权利要求2所述的一种用于材料空间分布特性测量的脉冲X射线二极管，其特征在于，所述电流测试探头（20）包括第二N型头（26）、金属固定座（27）和电流环（28）；

所述第二N型头（26）设置在金属固定座（27）内，所述电流环（28）置于金属固定座（27）内，且电流环（28）的两端分别焊接在第二N型头（26）的铜芯和外壳地上，所述金属固定座（27）安装在二极管管筒（2）上预留的第二法兰上。

5.根据权利要求1所述的一种用于材料空间分布特性测量的脉冲X射线二极管，其特征在于，所述二极管管壳（8）上设置有与真空靶室连通的真空挡板阀接口（7）。

6.根据权利要求1所述的一种用于材料空间分布特性测量的脉冲X射线二极管，其特征在于，所述二极管管筒（2）一端连接在环形凸起的一侧，另一端与充气密封法兰（1）连接，所述二极管管壳（8）一端与连接在环形凸起的另一侧，另一端安装有真空盖板（9）。

7.根据权利要求1所述的一种用于材料空间分布特性测量的脉冲X射线二极管，其特征在于，所述二极管管筒（2）和二极管管壳（8）的外壁均设置有固定箍（3），使用时所述脉冲X射线二极管通过固定箍（3）与固定底座（4）可拆卸式连接。

8.根据权利要求1所述的一种用于材料空间分布特性测量的脉冲X射线二极管，其特征在于，所述阴极组件包括阴极盘（11）和阴极环（13）；

所述阴极环（13）通过阴极压接法兰（12）安装在阴极盘（11）上，所述阴极盘（11）通过阴极盘压接法兰（10）安装在二极管管壳（8）的端部。