[发明专利]基于SMT自动化屏蔽箱校准综测治具及其使用方法在审
申请号: | 202110969182.3 | 申请日: | 2021-08-23 |
公开(公告)号: | CN113573533A | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 张锦昌 | 申请(专利权)人: | 惠州市创科达科技有限公司 |
主分类号: | H05K5/06 | 分类号: | H05K5/06;H05K9/00;H05K13/08 |
代理公司: | 北京化育知识产权代理有限公司 11833 | 代理人: | 尹均利 |
地址: | 516000 广东省惠州市恺*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 smt 自动化 屏蔽 校准 综测治具 及其 使用方法 | ||
1.基于SMT自动化屏蔽箱校准综测治具,包括屏蔽箱本体(1)、存储机构(2)和固定机构(3),其特征在于:所述屏蔽箱本体(1)底部设置有存储机构(2),所述存储机构(2)正面设置有固定机构(3);
所述存储机构(2)包括设置有防尘箱(221),所述防尘箱(221)右侧开设有空槽(222),所述空槽(222)内表面开设有滑槽(223),所述滑槽(223)内壁设置有滑轮(228),所述滑轮(228)活动连接有固定轴(229),所述固定轴(229)固定连接有挡板(225),所述挡板(225)设置有两组,两组所述挡板(225)之间固定连接有支撑板(224),所述挡板(225)右侧活动连接有闭合板(226);
所述固定机构(3)包括设置有固定板(331),所述固定板(331)设置有两组,上侧所述固定板(331)开设有限位槽(339),所述限位槽(339)活动连接有限位板(338),两组所述固定板(331)之间设置有隔尘板(332),所述隔尘板(332)内壁设置有活动槽(334),所述活动槽(334)设置有两组,两组所述活动槽(334)之间设置有伸缩杆(335),所述伸缩杆(335)外表面设置有弹簧(336),所述伸缩杆(335)后端设置有连接板(337)。
2.根据权利要求1所述的基于SMT自动化屏蔽箱校准综测治具,其特征在于:所述连接板(337)后端与隔尘板(332)内壁固定连接,所述连接板(337)前端与伸缩杆(335)后端固定连接,所述弹簧(336)内表面与伸缩杆(335)外表面套接。
3.根据权利要求1所述的基于SMT自动化屏蔽箱校准综测治具,其特征在于:两组所述活动槽(334)内侧开设有矩形槽,所述矩形槽与滑板(333)上下两端活动连接,所述滑板(333)前端与限位板(338)后端固定连接。
4.根据权利要求3所述的基于SMT自动化屏蔽箱校准综测治具,其特征在于:所述滑板(333)后端与弹簧(336)前端固定连接,所述弹簧(336)前端与滑板(333)后端固定连接,所述限位板(338)与限位槽(339)相适配。
5.根据权利要求1所述的基于SMT自动化屏蔽箱校准综测治具,其特征在于:所述闭合板(226)左侧固定连接有半弧槽(227),所述半弧槽(227)与屏蔽箱本体(1)右侧交接,两组所述挡板(225)内侧与屏蔽箱本体(1)前后两侧交接。
6.根据权利要求1所述的基于SMT自动化屏蔽箱校准综测治具,其特征在于:所述滑轮(228)设置有两组,两组所述滑轮(228)位于防尘箱(221)侧边中心处呈对称设置。
7.根据权利要求1所述的基于SMT自动化屏蔽箱校准综测治具,其特征在于:所述屏蔽箱本体(1)体型与空槽(222)相适配,所述防尘箱(221)侧边内表面开设有凸形槽(230),所述凸形槽(230)与闭合板(226)顶部相适配,所述防尘箱(221)内壁下端设置有校准机构(4)。
8.根据权利要求7所述的基于SMT自动化屏蔽箱校准综测治具,其特征在于:所述校准机构(4)包括设置有插接板(441),所述插接板(441)底部固定连接有螺纹筒(443),所述插接板(441)两端活动连接有升降槽(442)内壁,所述升降槽(442)设置有两组,所述螺纹筒(443)底部活动连接有螺纹杆(444),所述螺纹杆(444)下端贯穿有倾斜齿轮(446),所述倾斜齿轮(446)啮合连接有电机(445)。
9.基于SMT自动化屏蔽箱校准综测治具使用方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤a、根据实际情况选择合的屏蔽箱本体(1)和防尘箱(221);
步骤b、将屏蔽箱本体(1)放置在支撑板(224)上端,并将支撑板(224)推入防尘箱(221)内壁再使闭合板(226)与空槽(222)闭合;
步骤c、推动限位板(338)将隔尘板(332)从侧边抽出,拨动屏蔽箱本体(1)开关使屏蔽箱本体(1)在防尘箱(221)内壁中启动;
步骤d、拨动电机(445)开关带动倾斜齿轮(446)同步进行转动,倾斜齿轮(446)驱动螺纹杆(444)联动螺纹筒(443)进行上下升降,将屏蔽箱本体(1)对不同的高度进行校准实验分析。
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