[发明专利]一种设计自动测试方法、平台、存储介质和电子设备

说明书

本发明公开了一种设计自动测试方法、平台、存储介质和电子设备，接收待检测部件的测试条件数据和测试指令，根据测试指令测试待检测部件的各项性能并生成包括各项性能测试参数的测试数据报告，对于测试参数不符合设计要求，根据待检测部件的测试条件数据按照轮询的方式获得数据库中已存储相似设计的已检测部件进行比对查询以确定不符合设计要求的测试参数的原因。该设计自动测试方法使得产品的设计验证合理化、规范化,最大可能地减小不合理的验证测试流程及误导性的测试数据的出现,提高了设计验证的准确性与可靠性。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，具体涉及一种设计自动测试方法、平台、存储介质和电子设备。

背景技术

产品设计完成后都需要相对严密验证测试，测试的结果作为产品设计的直接依据,可直接判别产品设计的有效性与可靠性。也就是说，设计验证必须能够提供极其准确的测试数据,并为产品设计提供数据性的依据与设计改善方向的指导。现有的验证测试过程比较复杂，往往需要人工对产品的各项性能进行一一的验证，耗时耗力，同时还容易漏掉对某项性能的测试。在测试过程中，测试环境因素、测试方法的差异、测试所用的硬件和软件的差异以及人为操作的差异等都可能会导致测试结果的极大不同。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种设计自动测试方法、平台、存储介质和电子设备，使得设计验证合理化、规范化,提高了测试效率和测试验证的准确性与可靠性。

第一方面，本发明实施例提供了一种设计自动测试方法，所述方法包括：

接收待检测部件的测试条件数据和测试指令；

根据所述测试指令测试待检测部件的各项性能并生成测试数据报告，所述测试数据报告包括所述待检测部件的各项性能的测试参数；

响应于所述测试参数不符合设计要求，根据所述待检测部件的测试条件数据按照轮询的方式获得相似设计的已检测部件，所述相似设计根据所述待检测部件和所述已检测部件的相似度确定，所述已检测部件存储在数据库中。

进一步地，所述方法还包括：

展示所述待检测部件的各项性能的测试参数和所述已检测部件的各项性能的测试参数，以供测试者甄别异常测试参数。

进一步地，所述展示所述待检测部件的各项性能的测试参数和所述已检测部件的各项性能的测试参数包括：

根据所述测试数据报告的各项性能的测试参数自动绘制形成各项性能对应的可视化图形进行展示。

进一步地，所述方法还包括：

根据所述异常测试参数展示所述异常测试参数对应的所有问题因素，以供测试者确定所述异常测试参数的准确原因。

进一步地，所述根据所述异常测试参数展示所述异常测试参数对应的所有问题因素包括：

展示所述待检测部件所有的测试环境因素，以供测试者检查排除测试环境问题；

展示所述待检测部件的各项性能的测试参数以及对应的厂商规格书的各项测试参数，所述厂商规格书的各项测试参数预先存储在数据库中；

展示所述待检测部件的各项性能的测试参数以及对应的各项性能的目标测试参数，所述目标测试参数存储在数据库中。

进一步地，所述方法还包括：

展示所述待检测部件的所有测试条件数据和所述已检测部件的所有测试条件数据，所述测试条件数据包括软件脚本代码。

进一步地，所述方法还包括：

存储所述待检测部件的测试数据报告以及所述异常测试参数的准确原因。

进一步地，所述方法还包括：