[发明专利]一种软X射线滤光片及其制备方法和用途在审
申请号: | 202110972075.6 | 申请日: | 2021-08-24 |
公开(公告)号: | CN113689968A | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
发明(设计)人: | 孟建伟;翁祖谦 | 申请(专利权)人: | 上海科技大学 |
主分类号: | G21K1/10 | 分类号: | G21K1/10;C23C14/16;C23C14/30 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 严晨;许亦琳 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 滤光 及其 制备 方法 用途 | ||
1.一种软X射线滤光片,包括石墨烯支撑层,所述石墨烯支撑层表面涂覆有铝膜。
2.如权利要求1所述的软X射线滤光片,其特征在于,所述石墨烯支撑层的厚度为0.35~0.7nm。
3.如权利要求1所述的软X射线滤光片,其特征在于,所述铝膜的厚度为10~50nm。
4.如权利要求1所述的软X射线滤光片,其特征在于,所述软X射线滤光片还包括框架结构,所述石墨烯支撑层被固定于框架结构上。
5.如权利要求1所述的软X射线滤光片,其特征在于,所述软X射线滤光片对于能量为200~1000eV的光子的通过率≥80%;
和/或,所述软X射线滤光片对于能量为400~1000eV的光子的通过率≥95%。
6.如权利要求1~5任一权利要求所述的软X射线滤光片的制备方法,包括:在石墨烯支撑层表面形成铝膜。
7.如权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述在石墨烯支撑层表面形成铝膜的方法选自物理气相沉积法。
8.如权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述物理气相沉积法选自电子束蒸镀。
9.如权利要求6所述的制备方法,其特征在于,还包括:将石墨烯支撑层固定于框架结构上。
10.如权利要求9所述的制备方法,其特征在于,所述框架结构的材质为硅。
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