[发明专利]一种印材相对拉伸量的测量方法

权利要求书

1.一种印材相对拉伸量的测量方法，其特征在于，所述测量方法用于测量拉伸系数较大的承印基材在印制过程中的相对拉伸量，所述测量方法所适用的印刷设备包括多个色组，沿走纸方向，自第二个色组起，在每个色组的下游均配置一个测量模块，每个测量模块均包括延时触发板和处理器，每两个待测测量模块形成一个拉伸量测量组，每个拉伸量测量组中位于上游的测量模块被标记为第一测量模块，该测量模块中各器件相应地被标记为第一器件，其所处理的物理量被标记为第一物理量，位于下游的测量模块被标记为第二测量模块，该测量模块中各器件相应地被标记为第二器件，其所处理的物理量被标记为第二物理量，所述测量方法包括：

第一处理器获取第一时间间隔并发送至第二处理器，所述第一时间间隔为第一延时触发板两次被触发的时间间隔；

第二处理器获取第二时间间隔，所述第二时间间隔为第二延时触发板两次被触发的时间间隔，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同；

第二处理器获取第一纵向偏差，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；

第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；

第二处理器获取走纸速度；

第二处理器根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量，具体可根据下式(1)计算：

Δl＝(Δt₂-Δt₁)×v+y₂-y₁ 式(1)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt₁表示第一时间间隔，Δt₂表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述获取第一纵向偏差的方法包括：

获取第一目标靶标图像几何中心坐标；

获取第一目标靶标影像几何中心坐标；

计算第一纵向偏差，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心纵坐标与第一目标靶标影像几何中心纵坐标之差。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述测量方法还包括：

获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离；

获取本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离；

获取第一校正偏差和第二校正偏差；

根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(2)计算：

Δl＝(Δt₂-Δt₁)×v+y₂-y₁+N₂-M₂+M₁-N₁ 式(2)

其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt₁表示第一时间间隔，Δt₂表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y₁表示第一纵向偏差，y₂表示第二纵向偏差，N₁表示第一校正触发距离，M₁表示第一实际触发距离，N₂表示第二校正触发距离，M₂表示第二实际触发距离。