[发明专利]一种膜线定位及膜条识别方法

说明书

本发明提供一种膜线定位及膜条识别方法，通过对膜线的定位，包括确定质控膜线以及其他的待选膜线，将其他待选膜线与根据质控膜线获得的初选膜线集进行比对，选出合适的待选膜线作为最终膜线集中的膜线，便于后续对膜线的分析；并通过实时对初选膜线集进行修正，保证最终确定的膜线集中的膜线的位置准确。

技术领域

本发明涉及图像识别领域，特别是涉及一种膜线定位及膜条识别方法。

背景技术

随着医疗领域的发展，对于过敏的病症，由最初的无计可施，转变到后来的过敏原检测，目前常规的过敏原检测包括点刺检查过敏源、斑点试验、总IgE检测、食物不耐受检测以及免疫印迹检测等。其中免疫印迹法是一种将高分辨率凝胶电泳和免疫化学分析技术相结合的杂交技术。将过敏原特性抗体IgG免疫印迹法检测的膜条粘贴于标准格式读取板上，经平板扫描仪扫描成电子图像，本算法对该电子图像识别膜条位置，鉴别膜条条带特异性。免疫印迹法不仅广泛应用于分析抗原组分及其免疫活性，还能够用于疾病的诊断。

在传统的免疫印迹法检测过程中，膜条贴于结果读取板上，通过与比色板的人工比对，判断识别检测结果。在传统的方法中需要消耗大量的人力，另外在人工比对的过程中由于受个人视力的影响，容易导致比对不准确，带有一定的主观因素。因此需要一种免疫印迹图像识别的方法。

发明内容

本发明的目的是解决现有技术的不足，提供一种膜线定位及膜条识别方法。

为了解决上述问题，本发明采用如下技术方案：

一种膜线定位方法，包括如下步骤：

步骤71：根据膜条列表中的膜条图像，确定质控膜线以及符合颜色要求的待选膜线一的位置；

步骤72：根据膜条图像获得灰度图像，并由灰度图像的灰度变化率，确定膜条上的待选膜线二的位置；

步骤73：根据质控膜线以及设定的膜线间距，在待选膜线一和待选膜线二中筛选出膜线集。

进一步的，所述步骤71中，质控膜线以及待选膜线一的获取包括如下步骤：

步骤711：对膜条列表中的膜条图像进行多尺度加强，获得单通道增强图像；

步骤712：将膜条图像转换为灰度图像；并将单通道增强图像和灰度图像做差值，获得差值图像；

步骤713：根据差值图像，在膜条图像的设定距离范围内寻找质控膜线；并寻找符合颜色要求的待选膜线一。

进一步的，所述步骤711中，获得增强图像的方法，首先将膜条图像进行高斯模糊处理，获得高斯模糊图像；随后将高斯模糊图像与膜条图像加权融合，获得单通道增强图像。

进一步的，所述步骤712中，差值图像通过如下式子获得：

其中，dst表示差值图像中的对应像素的灰度值；en_s表示单通道增强图像中对应像素的值；gr_s表示灰度图像中对应像素的灰度值。

进一步的，所述步骤713中，首先对二值化差值图像做Y方向上的投影直方图，并根据膜条图像的灰度图像做Y方向上的均值直方图，均值直方图为膜条图像中每列像素的均值；随后在膜条图像上的设定距离区域内，依据判断准则，寻找质控膜线；最后根据投影直方图中的波峰位置，寻找满足设定阈值要求的波峰位置，作为待选膜线一；其中，质控膜线的判断准则为投影直方图中的波峰超过波峰设定阈值，同时均值直方图也超过均值设定阈值；

若在膜条图像上的设定距离区域内没有找到符合判断准则的质控膜线，则在该设定距离区域内选择投影直方图中波峰最大的值，并将其对应的位置作为质控膜线。

进一步的，所述步骤72中，确定膜条上的待选膜线二的过程包括如下步骤：