[发明专利]一种基于电子元件性能数据的元件筛选方法及系统

说明书

本发明提供的一种基于电子元件性能数据的元件筛选方法及系统，涉及数据处理技术领域。在本发明中，基于获取的性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据进行解析处理，得到每一个电子元件的性能是否存在异常的解析结果，其中，每一组性能检测数据包括对应的一个电子元件通过进行多次性能检测得到的多条性能检测数据；基于电子元件对应的解析结果确定是否将电子元件作为筛选出的目标电子元件；若电子元件对应的解析结果为电子元件的性能不存在异常，则将电子元件作为筛选出的目标电子元件。采用以上步骤对电子元件进行筛选，可以提高对电子元件进行筛选的可靠性。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，具体而言，涉及一种基于电子元件性能数据的元件筛选方法及系统。

背景技术

在电子元件的生产侧，一般会在电子元件的生产完成之后，且在投入市场之前，对电子元件的性能进行测试，以确定电子元件的性能是否存在异常，如在不存在异常时可以将电子元件投入市场进行利用。

但是，经发明人研究发现，在现有技术中，在对电子元件的性能进行检测时，一般是将电子元件检测得到的测试数据进行单独分析，以得到对应的检测结果，如此，就会导致因检测结果的可靠性难以得到保障而进一步导致筛选出用于投入市场的目标电子元件的可靠性不佳的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种基于电子元件性能数据的元件筛选方法及系统，以提高对电子元件进行筛选的可靠性。

为实现上述目的，本发明实施例采用如下技术方案：

一种基于电子元件性能数据的元件筛选方法，应用于性能数据处理服务器，所述基于电子元件性能数据的元件筛选方法包括：

基于获取的性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据进行解析处理，得到每一个所述电子元件的性能是否存在异常的解析结果，其中，每一组所述性能检测数据包括对应的一个所述电子元件通过进行多次性能检测得到的多条性能检测数据，所述性能数据处理服务器通信连接有至少一个所述性能检测设备，所述性能检测设备用于在检测得到所述性能检测数据之后，将所述性能检测数据发送给所述性能数据处理服务器；

针对每一个所述电子元件，基于该电子元件对应的解析结果确定是否将该电子元件作为筛选出的目标电子元件；

针对每一个所述电子元件，若该电子元件对应的解析结果为该电子元件的性能不存在异常，则将该电子元件作为筛选出的目标电子元件。

在一些优选的实施例中，在上述基于电子元件性能数据的元件筛选方法中，所述针对每一个所述电子元件，若该电子元件对应的解析结果为该电子元件的性能不存在异常，则将该电子元件作为筛选出的目标电子元件的步骤，包括：

针对每一个所述电子元件，若该电子元件对应的解析结果为该电子元件的性能不存在异常，则基于该电子元件对应的一组性能检测数据确定该电子元件的性能稳定性表征值，其中，所述性能稳定性表征值用于表征对应的所述电子元件的性能稳定性；

针对每一个性能不存在异常的电子元件，将该电子元件作为目标电子元件，并将该电子元件的性能稳定性表征值确定为该电子元件作为所述目标电子元件的性能优劣表征信息。

在一些优选的实施例中，在上述基于电子元件性能数据的元件筛选方法中，所述针对每一个所述电子元件，若该电子元件对应的解析结果为该电子元件的性能不存在异常，则基于该电子元件对应的一组性能检测数据确定该电子元件的性能稳定性表征值的步骤，包括：

针对每一个所述电子元件，若该电子元件对应的解析结果为该电子元件的性能不存在异常，则对该电子元件对应的一组性能检测数据进行离散度计算，得到该电子元件对应的数据离散程度值；