[发明专利]金属氧化物可变电阻测试电路、系统及方法

权利要求书

1.一种金属氧化物可变电阻测试电路，其特征在于，包括：整流电路、第一开关器件、第一电容、第二开关器件、限流器件和第二电容，

所述整流电路的第一端连接所述第一开关器件的第一端，所述第一开关器件的第二端连接所述第一电容的第一端和所述第二开关器件的第一端，所述整流电路的第二端连接所述第一电容的第二端，所述第一电容的第二端用于连接待测金属氧化物可变电阻，所述第二开关器件的第二端连接所述限流器件的第一端，所述限流器件的第二端连接所述第二电容的第一端，所述第二电容的第二端用于连接所述待测金属氧化物可变电阻；

当所述第一开关器件断开，所述第二开关器件闭合时，所述整流电路为所述第一电容充电；当所述第一开关器件断开，所述第二开关器件闭合时，所述第一电容放电，用以模拟向所述待测金属氧化物可变电阻施加基波短路过电压，实现对所述待测金属氧化物可变电阻进行测试。

2.根据权利要求1所述的金属氧化物可变电阻测试电路，其特征在于，所述整流电路包括升压变压器和整流器件，所述升压变压器的原边绕组的第一端用于连接外部交流电源，所述升压变压器的原边绕组的第二端用于连接所述外部交流电源，所述升压变压器的副边绕组的第一端连接所述整流器件的第一端，所述整流器件的第二端作为所述整流电路的第一端，所述升压变压器的副边绕组的第二端作为所述整流电路的第二端。

3.根据权利要求2所述的金属氧化物可变电阻测试电路，其特征在于，所述整流器件为整流二极管。

4.根据权利要求1-3任一项所述的金属氧化物可变电阻测试电路，其特征在于，所述第一开关器件和所述第二开关器件均为高压断路器。

5.根据权利要求1-3任一项所述的金属氧化物可变电阻测试电路，其特征在于，所述限流器件为限流电感。

6.根据权利要求1-3任一项所述的金属氧化物可变电阻测试电路，其特征在于，所述第一电容和所述第二电容的电容值相同。

7.一种基于权利要求1-6任一项所述的金属氧化物可变电阻测试电路的金属氧化物可变电阻测试方法，其特征在于，包括：

当所述第一开关器件断开，所述二开关器件闭合，所述第一电容开始放电模拟向所述待测金属氧化物可变电阻施加基波短路过电压时，获取所述第一电容的充置电压值；

根据所述充置电压值和预设电路参数分析得到所述待测金属氧化物可变电阻的电压峰值；

根据所述电压峰值和预设电压典型值分析所述待测金属氧化物可变电阻的短时工频过电压耐受能力是否合格。

8.根据权利要求7所述的金属氧化物可变电阻测试方法，其特征在于，所述当所述第一开关器件断开，所述二开关器件闭合，所述第一电容开始放电模拟向所述待测金属氧化物可变电阻施加基波短路过电压时，获取所述第一电容的充置电压值的步骤之后，还包括：

根据所述充置电压值和预设电路参数分析所述待测金属氧化物可变电阻长期吸收能量的能力和最大吸收能量的能力是否合格。

9.根据权利要求7所述的金属氧化物可变电阻测试方法，其特征在于，所述根据所述充置电压值和预设电路参数分析得到所述待测金属氧化物可变电阻的电压峰值的步骤，包括：

所述根据所述充置电压值和预设电路参数分析得到所述待测金属氧化物可变电阻的电流峰值；

根据所述电流峰值和预设电压模型进行分析，得到所述待测金属氧化物可变电阻的电压峰值，所述预设电压模型表征待测金属氧化物可变电阻的电流峰值和电压峰值的对应关系。

10.一种金属氧化物可变电阻测试系统，其特征在于，包括控制器和权利要求1-6任一项所述的金属氧化物可变电阻测试电路，所述控制器用于根据权利要求7-9任一项所述的金属氧化物可变电阻测试方法对待测金属氧化物可变电阻进行测试。