[发明专利]固体摄像装置、固体摄像装置的制造方法、以及电子机器在审
申请号: | 202111005601.8 | 申请日: | 2021-08-30 |
公开(公告)号: | CN115548035A | 公开(公告)日: | 2022-12-30 |
发明(设计)人: | 田中俊介;野房勇希 | 申请(专利权)人: | 广东京之映科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H04N5/374 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 519000 广东省珠海市银*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 固体 摄像 装置 制造 方法 以及 电子 机器 | ||
本发明涉及固体摄像装置、固体摄像装置的制造方法、以及电子机器,可减小画素间的串扰,而且可谋求画素尺寸的小型化,另外,可降低混色,谋求高灵敏度化、高性能化。画素部(20)构成为在半导体基板(210)形成有作为光电转换部的光二极管(PD211至216),且在让光二极管(PD211至PD216)的光入射的一面侧包含下列而构成:光高吸收层(HA层)(280),在光二极管(光电转换部)(PD211至PD216)的一面侧表面来控制入射光的反射成分,且使的再扩散于光电转换部中;及漫射光抑制结构体(290),抑制朝向包含光高吸收层(280)的光电转换部的一面侧的光入射路中(光散射所导致)的漫射光。
技术领域
本发明关于一种固体摄像装置、固体摄像装置的制造方法、以及电子机器。
背景技术
已有一种CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor,互补性金属氧化半导体)影像感测器(image sensor)被作为固体摄像装置而提供于实际的使用上,该固体摄像装置使用了检测光而使电荷产生的光电转换元件。
CMOS影像感测器一般使用红(R)、绿(G)、蓝(B)的三原色滤光器(filter)或蓝绿(cyan)、深红(magenta)、黄(yellow)、绿(green)的四色补色滤光器来拍摄彩色画像。
一般而言,在CMOS影像感测器中,画素(pixel,像素)个别地具备有滤光器。滤光器将主要使红色光穿透的红(R)滤光器、主要使绿色光穿透的绿(Gr、Gb)滤光器、及主要使蓝色光穿透的蓝(B)滤光器的四个经正方排列而成的子像素群作为属于单位RGB子像素群组的多像素(multi pixel)而排列成二维状。
此外,进入CMOS影像感测器的入射光通过滤光器而在光二极管(photo diode)受光。由于光二极管会接收比人类的可视区域(380nm至780nm左右)更广波长域(380nm至1100nm)的光而使信号电荷发生,故会产生红外光成分的混色,而使色重现性降低。
因此,一般来说,通过预先设置于摄像机套组(camera set)内的红外线截断滤光器(cut filter)(IR截断滤光器)来去除红外光。
不过,由于IR截断滤光器会使可视光衰减达10%至20%左右,故会使固体摄像装置的灵敏度降低,导致画质劣化。
于是,提出一种不使用IR截断滤光器的CMOS影像感测器(固体摄像装置)(例如参照专利文献1)。
此CMOS影像感测器将包含主要使红色光穿透的红(R)滤光器的R子像素、包含主要使绿色光穿透的绿(G)滤光器的G子像素、包含主要使蓝色光穿透的蓝(B)滤光器的B子像素、及接收红外光的专用的近红外(NIR,例如940nm)子像素、或接收黑白(Monochrome:M)和红外光的黑白红外(M-NIR,例如500nm至955nm)子像素的四个经正方排列而成的子像素群作为属于单位RGBIR子像素群组的多像素(multi pixel)而排列成二维状。
此CMOS影像感测器作为可获得所谓的NIR画像和RGB画像的NIR-RGB感测器而产生作用。
在此CMOS影像感测器中,可使用接收到红外光的子像素的输出信号来修正接收到红色、绿色、蓝色的光的子像素的输出信号,无须使用IR截断滤光器即可实现高的颜色重现性。
不过,近年来在CMOS影像感测器中,已知有一种通过在属于光电转换部的光二极管的表面(Si表面)上形成光高吸收层(High Absorption Layer:以下也有时称为HA层),而使在宽广的波长域的灵敏度提升的技术(例如参照专利文献2)。
这些HA层于形成有光二极管的入射光侧的Si表面上形成,且在此Si表面来控制入射光的反射成分,且使的再扩散于光二极管中,从而可使灵敏度提升。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的