[发明专利]粘附力确定方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明提供一种粘附力确定方法、装置、电子设备和存储介质。所述方法包括：获取目标图像；基于所述目标图像，得到所述目标图像对应的轮廓包络线；在预设坐标系下，得到所述轮廓包络线的坐标参数；基于所述坐标参数与所述粘附力的对应关系，确定所述粘附力。采用本方法能够降低成本的同时提高易操作性。

技术领域

本发明涉及界面化学技术领域，尤其涉及一种粘附力确定方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着界面化学技术的发展，粘附力的研究在众多领域也显得越来越重要，例如，化学、化工、石化、医药或者食品等领域。粘附力是指某种材料附着于另一种材料表面的能力。例如，附着材料为流体，被附着体为固体，在流体附着在固体表面的力为粘附力等。粘附力的研究之所以在上述领域越来越重要，是因为该粘附力直接影响流体在固体表面的浸润性能，对于多相流体在化工设备内的流动行为具有重要影响；对于宏观设备，能够极大的影响固体表面附近两相流体的存留份数与尺寸分布，对于特征尺寸在毫米级以下的微设备，则能够直接决定流体的流动形态，从而对设备性能产生重要影响。

近年来，原子力显微镜被开发并应用于液滴与其他物体间微小作用力的准确测量，然而该方法涉及价格昂贵的精密仪器，研究成本高，操作复杂，推广难度大。因此，开发成本低廉、操作简单、易于推广的液滴与固体表面间粘附力测量方法对于促进该领域的研究发展具有重要意义。

发明内容

本发明提供一种粘附力确定方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决现有技术中设备昂贵、操作复杂的缺陷，实现了粘附力确定的低成本化和易操作性的目的。

本发明提供一种粘附力确定方法，包括：获取目标图像；基于所述目标图像，得到所述目标图像对应的轮廓包络线；在预设坐标系下，得到所述轮廓包络线的坐标参数；基于所述坐标参数与所述粘附力的对应关系，确定所述粘附力。

本发明提供一种粘附力确定方法，所述预设坐标系包括柱坐标系，所述在预设坐标系下，得到所述轮廓包络线的坐标参数包括：在所述柱坐标系下，得到所述轮廓包络线对应的柱体高度值；所述基于所述坐标参数与所述粘附力的对应关系，确定所述粘附力包括：根据所述柱体高度值确定所述粘附半径值；根据所述粘附半径值和所述柱体高度值，确定所述粘附力。

本发明提供一种粘附力确定方法，所述根据所述柱体高度值确定所述粘附半径值包括：确定柱体高度值与所述粘附半径值的函数关系；根据所述函数关系，利用所述柱体高度值确定所述粘附半径值。

本发明提供一种粘附力确定方法，所述确定所述柱体高度值与所述粘附半径值的函数关系包括：在所述柱坐标系下，将所述轮廓包络线进行分割，得到子包络线序列；在所述子包络线序列中，获取各个子包络线对应的子柱体高度值和子粘附半径值，所述子柱体高度值和子粘附半径值存在一一对应关系；根据所述子柱体高度值和所述子粘附半径值，得到所述子包络线序列对应的子柱体高度值序列和子粘附半径值序列；根据所述对应关系，对所述子柱体高度值序列中的各个所述子柱体高度值和所述子粘附半径值序列中的各个子粘附半径值进行函数拟合，确定所述函数关系。

本发明提供一种粘附力确定方法，所述坐标参数包括曲率半径值，所述基于所述坐标参数与所述粘附力的对应关系，确定所述粘附力包括：基于所述曲率半径值与所述粘附力的相关关系，确定所述粘附力。

本发明提供一种粘附力确定方法，所述基于所述目标图像，得到所述目标图像对应的轮廓包络线包括：确定所述目标图像对应的边缘图像；对所述边缘图像中的各个像素点的坐标值进行曲线拟合，得到所述轮廓包络线。

根据本发明提供的一种粘附力确定装置，包括：图像获取模块，用于获取目标图像；轮廓包络线获取模块，用于基于所述目标图像，得到所述目标图像对应的轮廓包络线；坐标参数得到模块，用于在预设坐标系下，得到所述轮廓包络线的坐标参数；粘附力确定模块，用于基于所述坐标参数与所述粘附力的对应关系，确定所述粘附力。