[发明专利]陶瓷杆蒸碳涂层衰减性能测试设备及测试方法在审
申请号: | 202111008642.2 | 申请日: | 2021-08-31 |
公开(公告)号: | CN114295642A | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 金得军;倪盈盛;许准;沈勇;陈雨舟;唐中华;岳贤宁;王雨 | 申请(专利权)人: | 南京三乐集团有限公司 |
主分类号: | G01N22/00 | 分类号: | G01N22/00 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 陆志斌 |
地址: | 211800 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 陶瓷 杆蒸碳 涂层 衰减 性能 测试 设备 方法 | ||
1.陶瓷杆蒸碳涂层衰减性能测试设备,其特征在于:包括信号发生器;三端口环行器;波导系统,小功率计;数据处理器,计算机控制系统;固定支架,机械传动机构,托架;待测试件夹持在波导系统内;机械传动机构上设有托架,待测试件垂直于托架且置于托架上,机械传动机构驱动托架上、下运动;所述的固定支架上设有三端口环行器;三端口环行器通过电缆与信号发生器、波导系统及小功率计相连通;小功率计与数据处理器相连通,数据处理器与计算机控制系统相连通;计算机控制系统用于控制机械传动机构。
2.根据权利要求1所述的陶瓷杆蒸碳涂层衰减性能测试设备,其特征在于:所述的三端口环行器上分别设有端口一,端口二,端口三;所述的端口一为信号输入端,端口一与信号发生器相连;所述的端口二为输入输出双向端口,端口二与波导系统相连;所述的端口三为输出端口,端口三与小功率计相连。
3.根据权利要求1所述的陶瓷杆蒸碳涂层衰减性能测试设备,其特征在于:所述的小功率计的信号输出端与数据处理器的信号输入端相连,数据处理器的信号输出端与计算机控制系统的信号输入端相连。
4.根据权利要求1所述的陶瓷杆蒸碳涂层衰减性能测试设备,其特征在于:所述的波导系统包括法兰,信号管腔,轴套,全反射面;所述的信号管腔的一端布置法兰,信号管腔的另一端设有轴套,相对于信号管腔另一侧的轴套上设有全反射面;所述的信号管腔内设有信号输入及输出的内腔,信号管腔的内腔贯穿轴套延伸至全反射面内。
5.根据权利要求4所述的陶瓷杆蒸碳涂层衰减性能测试设备,其特征在于:所述的信号管腔内的内腔从信号输入输出端的内腔直径向轴套方向呈逐渐压缩状;轴套内信号管腔内腔直径与全反射面信号管腔内腔直径相等。
6.陶瓷杆蒸碳涂层衰减性能测试设备的测试方法,其特征在于:测试方法如下:
步骤1、将陶瓷杆的杆体表面蒸碳涂层,将该陶瓷杆作为待测试件;
步骤2、将陶瓷杆夹持在波导系统中的轴套内,陶瓷杆的底端布置托架上;
步骤3、打开信号发生器、功率计;调节信号发生器的输出频率;
步骤4、对功率进行校正;并根据陶瓷杆的实际长度值对设置需要测试的长度;
步骤5、通过计算机控制系统控制机械传动机构,使待测试件沿波导系统从上至下自由下降;小功率计及数据处理器将曲线和衰减量数值反馈至计算机控制系统。
7.根据权利要求6所述的陶瓷杆蒸碳涂层衰减性能测试设备的测试方法,其特征在于:所述的步骤3中调节信号发生器的输出频率,设定为8.0 GHz~12.0GHz。
8.根据权利要求6所述的陶瓷杆蒸碳涂层衰减性能测试设备的测试方法,其特征在于:所述的步骤4中对功率进行校正,调节信号发生器的功率电平,同时观察功率的数值变化,直至功率计显示为1mW~3mW。
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