[发明专利]高分辨-高精度Stokes-Mueller成像仪及其校准方法

权利要求书

1.高精度-高分辨Stokes-Mueller成像仪的校准方法，其特征在于，所述成像仪包括光源、偏振态产生器、聚光镜、载物台、物镜、偏振态分析器、探测器及数据处理模块；光源出射的光经过偏振态产生器调制后，透过聚光镜，照射到载物台的样品上，样品透射出的光被物镜收集，经过偏振态分析器的调制后，被探测器接收后发送给数据处理模块；偏振态产生器包括偏振器P1以及在垂直于光轴平面内绕光轴旋转的波片R1；所述偏振器P1由两块格兰-激光棱镜组合而成，偏振器P1中两个格兰-激光棱镜的透光轴重合，但反射面方位相反，且反射面方位角相差180°；所述偏振态分析器包括偏振器P2以及在垂直于光轴平面内绕光轴旋转的波片R2；所述偏振器P2由两块格兰-激光棱镜组合而成，偏振器P2中两个格兰-激光棱镜的透光轴重合，但反射面方位相反，且反射面方位角相差180°；

该方法具体包含以下步骤：

把薄膜偏振器与一片载玻片贴合在一起形成薄膜偏振器-载玻片组合，将薄膜延迟器和一片载玻片贴合在一起形成薄膜延迟器-载玻片组合，作为定标元件使用；

分别对把单独的载玻片、薄膜偏振器-载玻片组合、薄膜延迟器-载玻片组合分别作为定标元件进行Mueller成像；

将上述定标元件放置在成像仪的不同的位置，利用定标元件Mueller成像的灰度值，转化成与像面辐照度线性相关的值，利用转化后的值，计算成像仪中的每一器件的Mueller矩阵，实现成像仪的校准。

2.根据权利要求1所述高精度-高分辨Stokes-Mueller成像仪的校准方法，其特征在于，所述像面辐照度线性相关的值为曝光量或者曝光量的线性函数。

3.根据权利要求1所述高精度-高分辨Stokes-Mueller成像仪的校准方法，其特征在于，采集已经诊断好的病变组织，利用高精度-高分辨Stokes-Mueller成像仪对其进行检测，通过ROC曲线确定每一种病变组织检测所对应的偏振参数及其最佳阈值。

4.根据权利要求1所述高精度-高分辨Stokes-Mueller成像仪的校准方法，其特征在于，所述成像仪还包括集光镜和结像镜，所述集光镜设置于光源和偏振态产生器之间，所述结像镜设置在偏振态分析器和探测器之间。