[发明专利]计量系统数据完整率的自动分析处理方法、介质和设备

说明书

本发明涉及一种计量系统数据完整率的自动分析处理方法、介质和设备，该计量系统数据完整率的自动分析处理方法通过构建影响计量系统数据完整率的计量系统影响因素模型，并且按照预设排查顺序依次对计量系统影响因素模型内各潜在影响因素自动执行影响排查分析，再将针对计量系统影响因素模型内各潜在影响因素的排查分析结果以页面的形式进行自动输出，避免传统人工排查分析效率低的问题，实现了针对影响计量系统数据完整率的各影响因素的自动化分析，提高了排查分析效率。

技术领域

本发明涉及电力领域，尤其涉及一种计量系统数据完整率的自动分析处理方法、介质和设备。

背景技术

计量系统的数据完整率是电力领域中的一项重要参考分析指标。由于采集电表数据时会受到多种因素的影响，出现电表数据缺失，导致计量系统的数据完整率无法达到100％的全覆盖。因此，现在通常是采用人工排查方式，按照影响计量数据完整率的因素，把各种影响因素映射罗列出来，然后再由专业的技术人员根据罗列的这些影响因素去排查分析，进而分析出导致计量系统的数据完整率出现不完整的因素。

但是，这种传统的人工方式需要人工去对每一个影响因素做排查分析，不仅耗时，排查效率低，而且还容易出现漏掉关键影响因素的情况发生。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对上述现有技术，提供一种计量系统数据完整率的自动分析处理方法。

本发明所要解决的第二个技术问题是针对上述现有技术，提供一种可读存储介质。该可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，计算机程序被处理器执行时，实现任一项所述的计量系统数据完整率的自动分析处理方法。

本发明所要解决的第三个技术问题是针对上述现有技术，提供一种智能电表。智能电表包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时，实现任一项所述的计量系统数据完整率的自动分析处理方法。

本发明解决第一个技术问题所采用的技术方案为：计量系统数据完整率的自动分析处理方法，其特征在于，包括如下步骤S1～S3：

步骤S1，构建影响计量系统数据完整率的计量系统影响因素模型；其中，在该计量系统影响因素模型包括所有可能影响计量系统数据完整率的潜在影响因素以及计量系统数据完整率因各影响因素发生问题时的概率，该计量系统影响因素模型中潜在影响因素的总数量标记为N，第n个影响因素标记为Q_n，计量系统数据完整率因影响因素Q_n发生问题时的概率标记为P(Q_n)；1≤n≤N；P(Q_n1)+P(Q₂)+…+P(Q_N)＝1；

步骤S2，按照预设排查顺序依次对计量系统影响因素模型内各潜在影响因素执行影响排查分析；

步骤S3，将针对计量系统影响因素模型内各潜在影响因素的排查分析结果进行自动输出。

改进地，在所述计量系统数据完整率的自动分析处理方法中，所述预设排查顺序为按照各影响因素发生问题时的概率从大到小的顺序。

进一步地，在所述计量系统数据完整率的自动分析处理方法中，所述计量系统影响因素模型内的潜在影响因素包括表计激活状态、通信参数、配置采集方案、电表任务方案、电表通讯通道任务、电表事件任务和系统日志任务。

再改进，在所述计量系统数据完整率的自动分析处理方法中，按照预设排查顺序依次对计量系统影响因素模型内各潜在影响因素执行影响排查分析的过程包括如下步骤：

步骤1，对表计状态是否为激活做出判断处理：

当表计状态为激活时，转入步骤2；否则，返回激活状态错误提示；

步骤2，对通信参数是否正确做出判断处理：